[发明专利]测定地球化学样品中银硼锡三元素含量的光谱分析方法有效
| 申请号： | 201710364331.7 | 申请日： | 2017-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN107037035B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 于阗;陈小迪;吕晓惠;杨秀丽;赵丽;贾春芳;郝宏艳;熊玉宝;陈亚南;王猛;张俊男;李俊洁;杨亚敏;刘彦庭;肖志博;刘丽颖;王静娴;陈会云;薄素蕊;范玉峰;毛薇 | 申请（专利权）人： | 华北有色地质勘查局燕郊中心实验室 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 | 代理人： | 李斌 |
| 地址： | 065201 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种测定地球化学样品中银硼锡三元素含量的光谱分析方法，包括首先采用液体缓冲剂浸润待测样品得到浸润样品；然后将浸润样品装入样品电极中并压实，滴入酒精蔗糖溶液，烘干获得烘干样品；再采用交直流电弧发生器激发烘干样品，并采用摄谱仪进行摄谱，然后采用CCD全谱直读测试软件计算银、硼、锡三元素的含量并导出结果。本发明操作简单、便捷、快速，有效提高了工作效率，并且测试结果准确、重现性好。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 地球化学 样品 中银硼锡三 元素 含量 光谱分析 方法 | ||
【主权项】：
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