[发明专利]测定地球化学样品中银硼锡三元素含量的光谱分析方法有效
| 申请号： | 201710364331.7 | 申请日： | 2017-05-22 |
| 公开（公告）号： | CN107037035B | 公开（公告）日： | 2020-10-16 |
| 发明（设计）人： | 于阗;陈小迪;吕晓惠;杨秀丽;赵丽;贾春芳;郝宏艳;熊玉宝;陈亚南;王猛;张俊男;李俊洁;杨亚敏;刘彦庭;肖志博;刘丽颖;王静娴;陈会云;薄素蕊;范玉峰;毛薇 | 申请（专利权）人： | 华北有色地质勘查局燕郊中心实验室 |
| 主分类号： | G01N21/67 | 分类号： | G01N21/67;G01N1/28 |
| 代理公司： | 北京八月瓜知识产权代理有限公司 11543 | 代理人： | 李斌 |
| 地址： | 065201 河北省*** | 国省代码： | 河北;13 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 测定 地球化学 样品 中银硼锡三 元素 含量 光谱分析 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种测定地球化学样品中银硼锡三元素含量的光谱分析方法，其特征在于，
S1.采用氯化钾饱和溶液浸润待测样品得到浸润样品；
S2.将浸润样品装入样品电极中并压实，滴入酒精蔗糖溶液，然后在70-90℃的条件下烘1小时，烘干获得烘干样品；所述酒精蔗糖溶液是将2g蔗糖溶于100mL乙醇水溶液中制备而成，乙醇水溶液中乙醇和水的体积比为1:1；
S3.采用交直流电弧发生器激发烘干样品，激发条件为预燃5A 5S曝光14A 30S，并采用摄谱仪进行摄谱，然后采用CCD全谱直读测试软件计算银、硼、锡三元素的含量并导出结果。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤S1具体包括：将待测样品放置在硫酸纸上，移取适量液体缓冲剂于待测样品的一侧，慢慢浸润至待测样品被浸润透。
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