[发明专利]一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪

摘要

一种少子寿命测试仪探头和少子寿命测试仪，属于半导体少子寿命测试技术领域，所述探头包括外壳体和探测体，其特征在于，外壳体中部设置圆柱形空腔，圆柱形空腔左右两侧对称设置与之相通的导线管路，导线管路下端设置与之相通的激光器容纳室，激光器容纳室内侧端部设置激光照射通道；探测体由上到下设置导线容纳段和探针夹持段，探针夹持段内部前后对称设置固定夹持件，固定夹持件内夹持探针，所述测试仪包括控制模块以及与控制模块电连接的供电模块、AD采集模块和计数模块，本发明的有益效果是，所述少子寿命测试仪探头整体结构稳定、布置紧凑合理，所述测试仪便携性更强，测试的准确性更高，适于推广应用。

主权项

一种少子寿命测试仪探头，包括探头本体，探头本体包括外壳体（1）和探测体（2），其特征在于，所述外壳体（1）中部设置圆柱形空腔（11），圆柱形空腔（11）与探测体（2）相配合，圆柱形空腔（11）的左右两侧对称设置有与之相通的导线管路（12），导线管路（12）与圆柱形空腔（11）之间设置有手持部（13），导线管路（12）下端设置与之相通的激光器容纳室（14），激光器容纳室（14）内安装有激光器（16），激光器容纳室（14）内侧端部设置激光照射通道（15），激光照射通道（15）与圆柱形空腔（11）底部相通；所述探测体（2）设置为圆柱形，由上到下设置有导线容纳段（21）和探针夹持段（22），探针夹持段（22）内部前后对称设置有固定夹持件（23），固定夹持件（23）内夹持有探针（24）。