[发明专利]实现高分辨率采样的方法、装置及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201710343986.6 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107483053A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 宋民;李振军;李天边 | 申请（专利权）人： | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本发明实施例提供了一种实现高分辨率采样的方法，包括获取ADC数据，按照滑动平均算法对所述ADC数据进行处理后生成采样数据。该方法能够在不改变ADC数据的原始采样率的情况下实现高分辨率采样，而后续处理环节，如插值、显示等均不需要对相应模块进行调整，有利于后续模块的可重用性，降低了数字示波器的设计难度和复杂度。本发明实施例还提供了一种实现高分辨率采样的装置和计算机可读存储介质。 | ||
| 搜索关键词： | 实现 高分辨率 采样 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
【主权项】：
一种实现高分辨率采样的方法，其特征在于，所述方法包括：获取ADC数据；按照滑动平均算法对所述ADC数据进行处理后生成采样数据。
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