[发明专利]实现高分辨率采样的方法、装置及计算机可读存储介质在审
| 申请号： | 201710343986.6 | 申请日： | 2017-05-16 |
| 公开（公告）号： | CN107483053A | 公开（公告）日： | 2017-12-15 |
| 发明（设计）人： | 宋民;李振军;李天边 | 申请（专利权）人： | 深圳市鼎阳科技有限公司 |
| 主分类号： | H03M1/12 | 分类号： | H03M1/12 |
| 代理公司： | 深圳鼎合诚知识产权代理有限公司44281 | 代理人： | 郭燕 |
| 地址： | 518000 广东省深圳市*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 实现 高分辨率 采样 方法 装置 计算机 可读 存储 介质 | ||
1.一种实现高分辨率采样的方法，其特征在于，所述方法包括：
获取ADC数据；
按照滑动平均算法对所述ADC数据进行处理后生成采样数据。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述按照滑动平均算法对ADC数据进行处理，包括：
对组成所述ADC数据的L项序列进行N点滑动平均处理，得到多个N点滑动平均值，所述采样数据即为由所述多个N点滑动平均值组成的序列，其中，N为正整数。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多个N点滑动平均值通过以下方式确定：
所述多个N点滑动平均值的第一项是所述L项序列的第一项至第N项的和除以N的值；
所述多个N点滑动平均值的第二项是所述L项序列的第二项至第N+1项的和除以N的值；
以此类推，所述多个N点滑动平均值的最后一项是所述L项序列的第(L-N+1)项至第L项的和除以N的值。
4.根据权利要求1至3其中任一项所述的方法，其特征在于，所述生成采样数据之后，所述方法还包括：
对所述采样数据进行数字信号处理后输出至显示屏进行显示。
5.一种实现高分辨率采样的装置，其特征在于，所述装置，包括：获取模块和滑动平均处理模块；其中，
所述获取模块，用于获取ADC数据；
所述处理模块，用于按照滑动平均算法对所述ADC数据进行处理后生成采样数据。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述滑动平均处理模块，用于通过以下方式对ADC数据进行处理：
对组成所述ADC数据的L项序列进行N点滑动平均处理，得到多个N点滑动平均值，所述采样数据即为由所述多个N点滑动平均值组成的序列，其中，N为正整数。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述多个N点滑动平均值通过以下方式确定：
所述多个N点滑动平均值的第一项是所述L项序列的第一项至第N项的和除以N的值；
所述多个N点滑动平均值的第二项是所述L项序列的第二项至第N+1项的和除以N的值；
以此类推，所述多个N点滑动平均值的最后一项是所述L项序列的第(L-N+1)项至第L项的和除以N的值。
8.根据权利要求5至7其中任一项所述的装置，其特征在于，所述装置还包括：数字信号处理模块和输出模块；其中，
所述数字信号处理模块，用于对所述采样数据进行数字信号处理；
所述输出模块，用于将数字信号处理后的数据输出至显示屏进行显示。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括程序，所述程序能够被处理器执行以实现如权利要求1至4中任一项所述的方法。
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