[发明专利]一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法在审

专利信息
申请号: 201710294764.X 申请日: 2017-04-28
公开(公告)号: CN107084791A 公开(公告)日: 2017-08-22
发明(设计)人: 陈艳;王广平;徐文斌;王淑华;陈伟力;雷浩;姚石磊 申请(专利权)人: 北京环境特性研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28
代理公司: 北京君恒知识产权代理事务所(普通合伙)11466 代理人: 黄启行,张璐
地址: 100854*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法,使用了聚乙烯薄膜、面源黑体和傅里叶变换式中波红外光谱仪等物品,经过多个步骤,获取70℃、80℃、90℃时黑体干涉数据和聚乙烯薄膜干涉数据,再将数据进行傅立叶变换,得到70℃、80℃、90℃时黑体和聚乙烯薄膜测量光谱数据;将同一温度下聚乙烯薄膜和黑体测量光谱对应求差值,得到聚乙烯薄膜的特征吸收峰位置曲线,从该曲线得到两个吸收峰位置为A和B;根据吸收峰位置A,经过计算公式计算得到吸收峰位置B对应的光谱位置,至此实现了中波红外光谱仪的光谱定标。与现有技术相比,本发明单次定标精度高、稳定性好,并且节约了成本。
搜索关键词: 一种 用于 中波 红外 光谱仪 光谱 定标 方法
【主权项】:
一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法,其特征在于:采用黑体和聚丙烯薄膜对傅里叶变换式中波红外成像光谱仪进行辐射和光谱一体化定标。
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