[发明专利]一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法

权利要求书

1.一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于：采用黑体和聚丙烯薄膜对傅里叶变换式中波红外成像光谱仪进行辐射和光谱一体化定标。

2.根据权利要求1所述的一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于：包括如下步骤：步骤一、将中波红外光谱仪开机，设置光谱分辨率、积分时间；

步骤二、将黑体辐射面贴近光谱仪入瞳口；

步骤三、将黑体升温至a温度，待黑体温度稳定，采集a温度时黑体干涉数据X；

步骤四、将聚乙烯薄膜覆盖在a温度的黑体表面，采集a温度时聚乙烯薄膜干涉数据X′；

步骤五、将黑体升温至b温度，待黑体温度稳定，采集b温度时黑体干涉数据Y；

步骤六、将聚乙烯薄膜覆盖在b温度的黑体表面，采集b温度时聚乙烯薄膜干涉数据Y′；

步骤七、将黑体升温至c温度，待黑体温度稳定，采集c温度时黑体干涉数据Z；

步骤八、将聚乙烯薄膜覆盖在c温度的黑体表面，采集c温度时聚乙烯薄膜干涉数据Z′；

步骤九、将a、b和c温度下的，黑体干涉数据X、Y、Z，和聚乙烯薄膜干涉数据X′、Y′、Z′，分别进行傅里叶变换，得到a、b和c温度下的黑体和聚乙烯薄膜测量光谱数据；将同一温度下聚乙烯薄膜和黑体测量光谱对应求差值，得到聚乙烯薄膜的特征吸收峰位置曲线，从该曲线得到两个吸收峰位置为A和B；

步骤十、根据光谱定标原理，若吸收峰位置A在中波红外波段范围内对应的光谱位置为C，则由计算公式计算得到吸收峰位置B对应的光谱位置为D，至此实现了中波红外光谱仪的光谱定标；

步骤十一、本次光谱定标完成。

3.根据权利要求2所述的一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于：步骤十中所述计算公式为：

σ2-σ1x2-x1=σ3-σ2x3-x2=...σn-σn-1xn-xn-1]]>

其中，σ₁，σ₂，σ₃…σ_n为n个波数成分，x₁，x₂，x₃，…x_n分别为σ₁，σ₂，σ₃…σ_n在频域空间的谱线位置。

4.根据权利要求2所述的一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于：所述a温度为70摄氏度，所述b温度为80摄氏度，所述c温度为90摄氏度。

5.根据权利要求2所述的一种用于中波红外光谱仪的光谱定标方法，其特征在于：在步骤三、五和六中，需要在黑体温度稳定后再进行采集该温度时黑体干涉数据。