[发明专利]一种物理气相沉积Ta-C涂层的制备方法及Ta-C涂层有效

专利信息
申请号: 201710263404.3 申请日: 2017-04-20
公开(公告)号: CN106893987B 公开(公告)日: 2023-09-05
发明(设计)人: 张而耕;何澄;黄彪;周琼 申请(专利权)人: 上海应用技术大学
主分类号: C23C14/34 分类号: C23C14/34;C23C14/16;C23C14/06;C23C14/02
代理公司: 上海汉声知识产权代理有限公司 31236 代理人: 封喜彦;胡晶
地址: 200235 上海*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明涉及物理气相沉积硬质涂层,具体公开了一种Ta‑C多层硬质涂层。本发明采用Ti靶和石墨靶,涂层制备过程包括:步骤一:等离子清洗;步骤二:沉积Ti打底层;步骤三:制备Ti和碳结合体层;步骤四:沉积四面体无定型无氢非晶碳层。本发明的物理气相沉积Ta‑C涂层采用离子溅射及辉光放电技术相结合工艺,具有制备工艺简单,沉积温度低、无污染、耗材少以及成膜均匀致密等特点。本发明的Ta‑C涂层硬度接近金刚石硬度,具有硬度更高、自润滑性更好以及摩擦系数更低等优点。本发明的Ta‑C涂层应用于软金属加工刀具及塑胶成型模具,可以显著减少磨损、抑制粘着、提高刀具及模具使用寿命。
搜索关键词: 一种 物理 沉积 ta 涂层 制备 方法
【主权项】:
一种物理气相沉积Ta‑C涂层的制备方法,用于在基体表面制备Ta‑C涂层,其特征在于,该制备方法采用离子溅射及辉光放电技术相结合的工艺,主要包括如下步骤:步骤一:采用辉光放电技术,等离子清洗基体表面杂质;在已加温的真空炉腔内进行氩离子轰击以清除基体表面杂质,真空炉腔中温度为70‑90℃,真空度为9×10‑5‑1.3×10‑4pa,氩离子轰击频率为13‑17Hz;步骤二:采用离子溅射技术沉积Ti打底层;向真空炉腔内通入氩气,氩气流量为40‑70sccm,真空炉腔内温度为75‑95℃,真空度为8.5×10‑5‑1.1×10‑4Pa,Ti靶通电,在基体表面沉积Ti打底层涂层,Ti靶电流为210‑280mA,电压为340‑400V,沉积时间5‑6min;步骤三:采用离子溅射技术制备Ti和碳结合体层;继续通入氩气,氩气流量为30‑60sccm,真空炉腔内温度为80‑100℃,真空度为8×10‑5‑1×10‑4Pa,使Ti靶和石墨靶同时通电,在Ti打底层外侧沉积Ti和碳的结合体涂层;其中,Ti靶电流为200‑260mA,电压为350‑400V,石墨靶电流为220‑280mA,电压为360‑420V,沉积时间3‑4min;步骤四:采用离子溅射技术沉积四面体无定型无氢非晶碳层;保持氩气通入,氩气流量为55‑90sccm,真空炉腔内温度为80‑95℃,真空度为9×10‑5‑1.15×10‑4Pa,停止Ti靶通电,保持石墨靶通电,在Ti和碳的结合体层外侧制备四面体无定型无氢非晶碳层,其中石墨靶电流为200‑260mA,电压为350‑400V,沉积时间1.5‑2h。
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