[发明专利]TFT基板及其测试方法、消除关机残像的方法在审
申请号: | 201710258339.5 | 申请日: | 2017-04-19 |
公开(公告)号: | CN107015408A | 公开(公告)日: | 2017-08-04 |
发明(设计)人: | 曾勉 | 申请(专利权)人: | 深圳市华星光电技术有限公司 |
主分类号: | G02F1/1362 | 分类号: | G02F1/1362;G02F1/1345;G09G3/00 |
代理公司: | 深圳市德力知识产权代理事务所44265 | 代理人: | 林才桂 |
地址: | 518132 广东*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | 本发明提供一种TFT基板及其测试方法、消除关机残像的方法。所述TFT基板中设有面内测试电路;所述面内测试电路包括与多个GOA单元一一对应的多个开关模块、以及至少一条开关控制走线,每一个开关模块均包括控制端、输入端、以及输出端,所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线,输出端电性连接该开关模块对应的GOA单元的扫描信号输出端,每一条开关控制走线均电性连接一个面内测试信号输入点,通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入面内测试信号能够单独对扫描线的进行不良检测,在液晶显示装置关机时,通过所述开关控制走线和开关模块向所述扫描线输入放电信号能够消除液晶显示装置的关机残像。 | ||
搜索关键词: | tft 及其 测试 方法 消除 关机 | ||
【主权项】:
一种TFT基板,其特征在于,包括:多条平行间隔排列的水平的扫描线(10)、多条平行间隔排列的竖直的数据线(20)、与所述多条扫描线(10)电性连接的GOA电路(30)和面内测试电路(40)、与所述GOA电路(30)电性连接的多个GOA信号输入点(50)、与所述面内测试电路(40)电性连接的至少一个面内测试信号输入点(60)、与所述多条数据线(20)一一对应电性连接的多个数据信号输入点(70);所述GOA电路(30)包括:级联的多个GOA单元(31),每一个GOA单元(31)均与所述多个GOA信号输入点(50)电性连接,每一个GOA单元(31)均包括一个扫描信号输出端,每一个扫描信号输出端对应电性连接一条扫描线(10);所述面内测试电路(40)包括:与所述多个GOA单元(31)一一对应的多个开关模块(41)、以及至少一条开关控制走线(42),每一个开关模块(41)均包括:控制端、输入端、以及输出端,所述控制端与输入端均电性连接一条开关控制走线(42),输出端电性连接该开关模块(41)对应的GOA单元(31)的扫描信号输出端,每一条开关控制走线(42)均电性连接一个面内测试信号输入点(60)。
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