[发明专利]预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法和MRI系统有效

专利信息
申请号: 201710252095.X 申请日: 2017-04-18
公开(公告)号: CN106896334B 公开(公告)日: 2019-11-29
发明(设计)人: 姜长青;张锋;丁建琦;董延涛;李路明 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01R33/20 分类号: G01R33/20;A61B5/055
代理公司: 44311 深圳市鼎言知识产权代理有限公司 代理人: 郑海威<国际申请>=<国际公布>=<进入
地址: 100084 北京市*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明涉及一种预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法,该方法适用于磁共振成像系统,该磁共振成像系统用于产生测温序列、测试序列和待扫描序列,该方法包括:步骤S20,实施测试序列前,采用测温序列进行M次测温,M≥1;步骤S30,实施测试序列,过程中采用测温序列进行N次测温,N≥0;步骤S40,实施测试序列后,采用测温序列进行P次测温,P≥1;以及步骤S50,根据测试序列的射频能量关联参数和待扫描序列的射频能量关联参数计算安全指标,与阈值进行比较,若安全,则进行扫描,否则,拒绝扫描。
搜索关键词: 一种 预先 评估 mr 有源 植入 周围 组织 温度 方法 磁共振 成像 系统
【主权项】:
1.一种预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法,该方法适用于磁共振成像系统,该磁共振成像系统用于产生测温序列、测试序列和待扫描序列,该方法包括:/n步骤S20,实施测试序列前,采用测温序列进行M次测温,M≥1;/n步骤S30,实施测试序列,过程中采用测温序列进行N次测温,N≥0;/n步骤S40,实施测试序列后,采用测温序列进行P次测温,P≥1;以及/n步骤S50,根据测试序列的射频能量关联参数和待扫描序列的射频能量关联参数计算安全指标,与阈值进行比较,若安全,则施加待扫描序列进行扫描,否则,拒绝扫描;其中,根据公式K=f(R,t)计算与组织热损伤相关的安全指标K,R为射频能量关联参数,t为扫描持续时间,且在扫描条件固定后,关联关系f的具体形式得到确定。/n
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