[发明专利]预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法和MRI系统

权利要求书

1.一种预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，该方法适用于磁共振成像系统，该磁共振成像系统用于产生测温序列、测试序列和待扫描序列，该方法包括：

步骤S20，实施测试序列前，采用测温序列进行M次测温，M≥1；

步骤S30，实施测试序列，过程中采用测温序列进行N次测温，N≥0；

步骤S40，实施测试序列后，采用测温序列进行P次测温，P≥1；以及

步骤S50，根据测试序列的射频能量关联参数和待扫描序列的射频能量关联参数计算安全指标，与阈值进行比较，若安全，则施加待扫描序列进行扫描，否则，拒绝扫描；其中，根据公式K＝f(R,t)计算与组织热损伤相关的安全指标K，R为射频能量关联参数，t为扫描持续时间，且在扫描条件固定后，关联关系f的具体形式得到确定。

2.根据权利要求1的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述采用测温序列进行M次测温前进一步包括步骤S10：采用定位序列进行定位扫描，确定植入物位置以及包含感兴趣区域的测温选层。

3.根据权利要求2的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述安全指标为温升值或热累积剂量值。

4.根据权利要求3的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述测试序列为Seq_n(Rn,tn)；所述待扫描序列为Seq_x(Rx,tx)；所述测试序列与待扫描序列使的射频磁场分布相匹配。

5.根据权利要求4的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述根据测试序列的射频能量关联参数和待扫描序列的射频能量关联参数计算安全指标的方法为：根据测试序列导致的温升计算待扫描序列导致的温升。

6.根据权利要求5的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述根据测试序列导致的温升计算待扫描序列导致的温升的方法为：判断是否检测到测试序列导致的温升，如果是，根据检测到的温升计算待扫描序列导致的温升并判断待扫描序列是否安全；如果否，则判断以测温精度作为测试序列导致的温升是否可以判断待扫描序列是否安全，若是，则进行扫描，否则，重新设置测试序列的射频能量关联参数，并重复步骤S20，S30和S40直到检测到测试序列导致的温升。

7.根据权利要求6的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述确定植入物位置以及包含感兴趣区域的测温选层的方法包括：利用边缘检测算法确定出伪影边缘，以边缘外作为感兴趣区域。

8.根据权利要求7的预先评估MR下有源植入物周围组织温度的方法，其特征在于，所述判断是否检测到测试序列导致的温升的方法为根据测温序列的扫描结果确定该有源植入物的伪影区域周围的温度分布，并判断伪影区域边缘的温度变化edge_T是否大于一阈值T₀，如果是，认为有效检出温升。

9.一种磁共振成像系统，其特征在于，其包括：

一MR扫描设备，该MR扫描设备用于产生测温序列、测试序列和待扫描序列；

一MR控制单元，该MR控制单元用于控制该MR扫描设备采用该测温序列、测试序列和待扫描序列进行扫描；以及

一数据处理单元，该数据处理单元用于处理该测温序列和测试序列的扫描结果，并采用如权利要求1至8中任意一项所述的方法预先评估MR下有源植入物周围组织温度。

10.根据权利要求9的磁共振成像系统，其特征在于，所述数据处理单元将有源植入物表面的热累积量CEM₄₃与事先设定的阈值threshold_CEM₄₃比较，同时比较有源植入物表面的最高温升ΔT_max与事先设定的最高温升阈值threshold_ΔT_max，两者之中任何一个超过阈值，所述数据处理单元及时向所述MR控制单元发出危险预警，该MR扫描设备自动拒绝对患者进行扫描；如果两者都没有超过阈值，则该MR扫描设备对患者实施扫描。