[发明专利]一种基于光栅光谱仪的光谱定标方法及光栅光谱仪在审

专利信息
申请号: 201710239986.1 申请日: 2017-04-13
公开(公告)号: CN107490433A 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 迟明波;吴一辉;郝鹏;周文超 申请(专利权)人: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
主分类号: G01J3/28 分类号: G01J3/28;G01J3/18;G01J3/02
代理公司: 深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)44316 代理人: 赵勍毅
地址: 130033 吉林省长春*** 国省代码: 吉林;22
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摘要: 发明基于光栅光谱仪的光谱定标方法及光栅光谱仪,光栅光谱仪结构可以包括元素谱线灯、准直镜、角位移平台、位于所述角位移平台上的扫描光栅、聚焦镜以及成像装置,由所述元素谱线灯发出的光信号经过所述准直镜准直后以第一入射角照射到所述扫描光栅,经过所述扫描光栅衍射的衍射光信号经由聚焦镜成像于所述成像装置,根据光栅方程,通过角位移平台转动光栅,导致光栅平面法线的转动,改变第一入射角i与衍射角θ,从而改变探测器像元上的波长范围,基于该原理可以实现光栅波长扫描,进而实现宽范围、高分辨率的光谱测量,所需专业辅助设备少,操作简便,光谱定标精度高,定标速度快,易于维护。
搜索关键词: 一种 基于 光栅 光谱仪 光谱 定标 方法
【主权项】:
一种基于光栅光谱仪的光谱定标方法,其特征在于,所述方法包括:选取特征谱线光源,调整角位移平台转角使得至少第一特征谱线和第二特征谱线处于探测器像面上,记录当前所述角位移平台的第一转角及第一特征谱线和第二特征谱线所处位置;调节所述角位移平台转动使得第二特征谱线转移至在转角为第一转角时所述第一特征谱线所处位置,记录当前所述角位移平台的第二转角,根据所述第一转角和所述第二转角确定转角差;根据所述转角差、所述第一特征谱线的波长及光栅方程确定所述角位移平台的转角为第一转角时所有像元对应的第一光栅入射角;根据第一转角时所述第一特征谱线和所述第二特征谱线及预设关系确定当前所述所有像元对应的波长值;根据任一像元对应的特征谱线的波长和所述第一光栅入射角以及光栅方程确定该像元点对应的第一光栅衍射角;根据所述第一光栅入射角和所述第一光栅衍射角确定所述光栅上入射光线及衍射光线之间的夹角关系,以完成初始像面的定标。
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