[发明专利]一种基于光栅光谱仪的光谱定标方法及光栅光谱仪

权利要求书

1.一种基于光栅光谱仪的光谱定标方法，其特征在于，所述方法包括：

选取特征谱线光源，调整角位移平台转角使得至少第一特征谱线和第二特征谱线处于探测器像面上，记录当前所述角位移平台的第一转角及第一特征谱线和第二特征谱线所处位置；

调节所述角位移平台转动使得第二特征谱线转移至在转角为第一转角时所述第一特征谱线所处位置，记录当前所述角位移平台的第二转角，根据所述第一转角和所述第二转角确定转角差；

根据所述转角差、所述第一特征谱线的波长及光栅方程确定所述角位移平台的转角为第一转角时所有像元对应的第一光栅入射角；

根据第一转角时所述第一特征谱线和所述第二特征谱线及预设关系确定当前所述所有像元对应的波长值；

根据任一像元对应的特征谱线的波长和所述第一光栅入射角以及光栅方程确定该像元点对应的第一光栅衍射角；

根据所述第一光栅入射角和所述第一光栅衍射角确定所述光栅上入射光线及衍射光线之间的夹角关系，以完成初始像面的定标。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进行低波段方向定标时，所述方法还包括：

根据所述预设关系确定第S像元上对应的第三波长值；

转动所述角位移平台使得第E像元对应第三波长值以完成一次波长扫描，根据所述夹角关系确定的所述第三波长值和所述第E像元上光栅入射光线和衍射光线的夹角确定第二光栅入射角；

根据光栅转角的变化量等于所述光栅入射角的变化量确定当前所述角位移平台的第二转角；

结合所述第E像元上光栅入射光线和衍射光线的夹角、所述第二光栅入射角及所述第二转角确定当前的第二光栅衍射角；

根据所述第二光栅衍射角和光栅方程确定当前所述第E像元上的第四波长值；

根据波长线性分布和所述夹角关系确定当前所有像元对应的波长值，以完成在第二转角时的波长定标，其中，有效工作像元范围为第S+1像元至第E像元之间。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在进行长波方向定标时，所述方法还包括：

根据所述预设关系确定第E+1像元上对应的第五波长值；

转动所述角位移平台使得所述第S像元对应第五波长值，根据所述夹角关系确定的所述第五波长值和所述第S像元上光栅入射光线和衍射光线的夹角确定第三光栅入射角；

根据光栅转角的变化量等于所述光栅入射角的变化量确定当前所述角位移平台的第三转角；

结合所述第S像元上光栅入射光线和衍射光线的夹角、所述第三光栅入射角及所述第三转角确定当前的第三光栅衍射角；

根据所述第三光栅衍射角和光栅方程确定当前所述第S像元上的第六波长值；

根据波长线性分布和所述夹角关系确定当前所有像元对应的波长值，以完成在第三转角时的波长定标，其中，有效工作像元范围为第S+1像元至第E像元之间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，根据所述第一光栅入射角和所述第一光栅衍射角确定所述光栅上入射光线及衍射光线之间的夹角关系之后，所述方法还包括：

对定标结果进行波长准确度进行误差标定。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述对定标结果进行波长准确度进行误差标定，包括：

对定标结果进行多项式拟合近似估计扫描过程中所有像元的波长定标误差，以对定标结果进行修正。