[发明专利]电路测试方法有效
| 申请号： | 201710235595.2 | 申请日： | 2017-04-12 |
| 公开（公告）号： | CN108572310B | 公开（公告）日： | 2021-04-16 |
| 发明（设计）人： | 郭宏森;陈德威;张宏盛;关明琬 | 申请（专利权）人： | 慧荣科技股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 陈亮 |
| 地址： | 中国台湾新竹县*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明提供一种电路测试方法,适用一待测元件。电路测试方法包括：将待测元件中的多个电源引脚耦接至一接地或者施加零伏特至待测元件中的电源引脚；在待测元件的多个信号引脚中的一第一信号引脚上，施加一测试电压；以及测量待测元件的信号引脚中的一第二信号引脚上的电流，并据以判断待测元件是否具有漏电流。 | ||
| 搜索关键词： | 电路 测试 方法 | ||
【主权项】：
1.一种电路测试方法，适用于一测试装置，用以测试一待测元件，该方法包括：将该待测元件中的多个电源引脚耦接至一接地；在该待测元件的多个信号引脚中的一第一信号引脚上，施加一测试电压；以及测量该待测元件的这些信号引脚中的一第二信号引脚上的电流，并据以判断该待测元件是否具有漏电流。
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