[发明专利]基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置

摘要

本发明公开了一种基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置，通过获取光源透射于背景图像后所射出的存在折射率场时的光线和不存在折射率场时的光线所形成的空间偏折角的角度值大小；根据获取的空间偏折角的角度值大小，得出光线从背景图像照射至折射点的方向向量；根据得出的光线从背景图像照射至折射点的方向向量，确定折射点的空间坐标和折射点处切平面的法向量；基于确定的折射点的空间坐标和折射点处切平面的法向量，对折射率场进行三维表面重建。本发明提供的基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法和装置，配置简单、测量的空间分辨率高、成本低。

主权项

一种基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法，应用于折射率场三维表面重建系统中，其特征在于，所述折射率场三维表面重建系统包括依次安装的光源、准直透镜和相机，所述光源用于发出光线并将发出的所述光线透射于所述背景图像的物点上；所述准直透镜用于汇集穿过所述物点和折射率场的折射点后的光线；所述相机用于对所述准直透镜汇集后的光线形成像点；所述基于背景纹影技术的透明物体三维表面重建方法包括步骤：获取所述光源透射于所述背景图像后所射出的存在所述折射率场时的光线和不存在所述折射率场时的光线所形成的空间偏折角的角度值大小；根据获取的所述空间偏折角的角度值大小，得出所述光线从所述背景图像照射至所述折射点的方向向量；根据得出的所述光线从所述背景图像照射至所述折射点的方向向量，确定所述折射点的空间坐标和所述折射点处切平面的法向量；基于确定的所述折射点的空间坐标和所述折射点处切平面的法向量，对所述折射率场进行三维表面重建。