[发明专利]一种嵌入式存储器自适应工作参数调整方法有效

专利信息
申请号: 201710228681.0 申请日: 2017-04-10
公开(公告)号: CN107123444B 公开(公告)日: 2020-04-03
发明(设计)人: 李强;席与凌;高金德 申请(专利权)人: 上海华力微电子有限公司
主分类号: G11C29/56 分类号: G11C29/56
代理公司: 上海天辰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 31275 代理人: 吴世华;陈慧弘
地址: 201210 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了一种嵌入式存储器自适应工作参数调整方法,包括:设定参数调整目标M;动态生成DAC_i的扫描基准值DAC_基准;i为≥1;基于动态生成的扫描基准值DAC_基准,判断后续DAC_i+1的空间档位调整方向通过扫描基准值DAC_基准,动态调整扫描起点,本发明分考虑到晶圆间以及晶圆内芯片周边环境工艺和器件差别对最终DAC参数调整空间档位的影响,明显减少当前待测芯片的调整档位数,从而减少了DAC扫描测试时间。
搜索关键词: 一种 嵌入式 存储器 自适应 工作 参数 调整 方法
【主权项】:
一种嵌入式存储器自适应工作参数调整方法,其特征在于,包括:步骤01:设定参数调整目标M;步骤02:动态生成DAC_i的扫描基准值DAC_基准;i为≥1;步骤03:基于步骤02中动态生成的扫描基准值DAC_基准,判断后续DAC_i+1的参数调整空间档位调整方向。
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