[发明专利]应用能量色散X射线荧光分析测定石灰岩矿中钙含量的方法在审

专利信息
申请号: 201710216433.4 申请日: 2017-04-05
公开(公告)号: CN106970100A 公开(公告)日: 2017-07-21
发明(设计)人: 邓玉福 申请(专利权)人: 沈阳师范大学
主分类号: G01N23/223 分类号: G01N23/223
代理公司: 沈阳维特专利商标事务所(普通合伙)21229 代理人: 霍光旭
地址: 110034 辽宁省沈*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要: 发明公开了一种应用能量色散X射线荧光分析测定石灰岩矿中钙含量的方法,属于分析检测技术领域,主要解决现有技术在直接检测钙元素激发效率低、结果精度差、灵敏度不高及效率低的问题。该方法首先对石灰岩矿样品进行预处理及标准样品、待测样品的制备,用能量色散X射线荧光光谱仪对试样中的银元素进行测量,探测到银元素的特征峰面积,代入定标曲线,得到试样中银元素的百分含量。再根据样品中银和钙的化学数量关系,计算得到石灰岩矿中钙元素的含量。本发明通过间接的测量方法实现了对石灰岩矿中钙含量的测量,具有准确、便捷、经济、易操作的特点。
搜索关键词: 应用 能量 色散 射线 荧光 分析 测定 石灰岩 矿中钙 含量 方法
【主权项】:
应用能量色散X射线荧光分析测定石灰岩矿中钙含量的方法,其特征在于:包括以下步骤;步骤一,制备标准样品:a:首先向石灰岩矿粉末中滴加稀盐酸,使石灰岩矿粉末中的可溶物质以离子的形式存在于溶液中,当溶液的PH=1‑2时,混合溶液中的可溶物质全部溶于稀盐酸,并与酸性不溶物相分离;b:然后继续向溶液中滴加氢氧化钠溶液,根据溶度积常数,控制PH值,使溶液中铁离子、铝离子和镁离子与氢氧根反应形成沉淀,钙以离子形式留在溶液中,反应生成的杂质沉淀,是由石灰岩矿中除钙元素以外的其余物质构成;然后将混合溶液静置、过滤、烘干;步骤二,制备待测样品:制备待测样品包括步骤a、b、c,其中步骤c在步骤b中静置、过滤、烘干前进行;c:向溶液中滴加适量的AgNO3溶液,反应产生氯化银沉淀,直至沉淀完全,烧杯中的杂质沉淀与氯化银沉淀共存,其中,AgCl的质量由NaCl和CaCl2共同决定;最后将混合溶液静置、过滤、烘干;步骤三,将标准样品中的沉淀物与AgCl粉末按银含量的不同成梯度变化的比例混合,采用粉末压片法制作标准测量样品,用能量色散X射线荧光分析仪测定标准测量样品,测得每个作标准测量样品中银元素的特征峰净面积,以银元素的百分含量为横坐标,以银元素的特征峰净面积为纵坐标绘制定标曲线;步骤四,同样用能量色散X射线荧光分析仪对待测样品中的银元素测量,探测到待测样品中银元素的特征峰净面积,代入定标曲线,求得待测样品中银元素的百分含量,再根据样品中银和钙的化学反应及数量关系,计算得到石灰岩矿样品中钙元素的百分含量。
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