[发明专利]在C-方向错切小于+/-15度的m-平面基底上的半极性III-氮化物光电子装置有效

专利信息
申请号: 201710215977.9 申请日: 2011-03-04
公开(公告)号: CN106972346B 公开(公告)日: 2019-12-10
发明(设计)人: P·S·徐;K·M·科尔奈;R·M·法雷尔;D·A·海格尔;H·太田;A·泰亚吉;S·纳卡姆拉;S·P·德恩巴阿斯;J·S·斯派克 申请(专利权)人: 加利福尼亚大学董事会
主分类号: H01S5/32 分类号: H01S5/32;H01S5/343;B82Y20/00;H01L21/02;H01S5/00;H01S5/20;H01S5/22;H01S5/30;H01S5/34
代理公司: 11245 北京纪凯知识产权代理有限公司 代理人: 王永伟;赵蓉民
地址: 美国加利*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 在GaN的错切上生成的光电子装置,其中所述错切包括在GaN的c‑方向且与GaN的m‑平面错切x度的(GaN的)半极性GaN晶体平面,其中‑15<x<‑1和1<x<15度。
搜索关键词: 方向 小于 15 平面 基底 极性 iii 氮化物 光电子 装置
【主权项】:
1.装置,其包括:/n一个或多个半极性III-氮化物层,所述一个或多个半极性III-氮化物层在具有倾斜角相对于c-平面在80与90度之间的GaN的半极性晶体平面上外延生成,其中所述半极性III-氮化物层的一个或多个具有0.75纳米或更小的表面粗糙度。/n
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