[发明专利]一种金属磁环小电感检测方法在审

专利信息
申请号: 201710201674.1 申请日: 2017-03-30
公开(公告)号: CN107102212A 公开(公告)日: 2017-08-29
发明(设计)人: 马峻;薛松 申请(专利权)人: 苏州亚思科精密数控有限公司
主分类号: G01R27/26 分类号: G01R27/26;G01R1/04
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司32200 代理人: 石艳红
地址: 215000 江*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种金属磁环小电感检测方法,包括步骤为标准磁环电感测试;待测磁环放置;上金属盖高度下降;上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后,上金属盖高度继续下降,旋转盘开始在电机的驱动下转动,电流互感器将对电机的回路电流进行检测;待测磁环电感测试当电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时,升降支架高度停止下降,将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去初始电感即为待测磁环电感。本发明能使金属罩与测试针紧密接触配合,从而电感测试精度高,测试方便、快捷。另外,还能延长测试针的使用寿命。
搜索关键词: 一种 金属 磁环小 电感 检测 方法
【主权项】:
一种金属磁环小电感检测方法,其特征在于:包括以下步骤:步骤1,标准磁环电感测试:标准磁环套设在位于绝缘盖和金属台之间的测试针的圆柱部上,缠绕在标准磁环上的金属线与电感测试仪相连接,上金属盖盖合在下金属环上;此时,电感测试仪显示电感读数为初始电感;步骤2,待测磁环放置:上金属盖高度上升,将待测磁环套装在测试针的圆柱部外周并放置在绝缘盖上;步骤3,上金属盖高度下降:上金属盖在升降支架的带动下,高度下降,使上金属盖上的金属导向套筒套装在测试针的外周;步骤4,上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力测试:金属导向套筒套装在测试针外周的指定位置后,上金属盖高度继续下降,旋转盘开始在电机的驱动下转动,电流互感器将对电机的回路电流进行检测;上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力与电机的回路电流呈线性关系,上金属盖与测试针及下金属环之间的配合压力大小的改变将引起回路电流的变化;步骤5,待测磁环电感测试:当步骤4中的电流互感器所检测的电机回路电流在设定范围内时,升降支架高度停止下降,将此时电感测试仪上的稳定电感读数减去步骤1中的初始电感即为待测磁环电感。
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