[发明专利]二次电源纹波测量装置在审
申请号: | 201710186871.0 | 申请日: | 2017-03-27 |
公开(公告)号: | CN107422277A | 公开(公告)日: | 2017-12-01 |
发明(设计)人: | 王小朋;张达 | 申请(专利权)人: | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 |
主分类号: | G01R31/42 | 分类号: | G01R31/42 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所(普通合伙)22210 | 代理人: | 于晓庆 |
地址: | 130033 吉*** | 国省代码: | 吉林;22 |
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摘要: | 二次电源纹波测量装置,涉及电源测试领域,解决了现有二次电源纹波测量存在的测量准确度低的问题。本发明包括与被测二次电源相连的二次电源测量接口;与负载相连的负载接口;与二次电源测量接口相连的阻抗匹配调节网络,用于过滤纹波中的杂波;通过电缆与阻抗匹配调节网络相连的连接头,用于消除纹波中的杂波;通过电缆与连接头相连的示波器,用于显示纹波;包裹在电缆外部且与被测二次电源回线相连的屏蔽层;负载接口、屏蔽层、二次电源测量接口、阻抗匹配调节网络均集成在小型电路板上。本发明提高了纹波测量的准确性与便利性,避免了人为因素的干扰,简化了测试过程。 | ||
搜索关键词: | 二次 电源 测量 装置 | ||
【主权项】:
二次电源纹波测量装置,其特征在于,包括:二次电源测量接口(4),用于连接被测二次电源(7);与二次电源测量接口(4)相连的负载接口(2),用于连接负载(10);与二次电源测量接口(4)相连的阻抗匹配调节网络(5),用于过滤纹波中的杂波;通过电缆(6)与阻抗匹配调节网络(5)相连的连接头(8),用于消除纹波中的杂波;通过电缆(6)与连接头(8)相连的示波器(9),用于显示纹波;包裹在电缆(6)外部且与被测二次电源(7)回线相连的屏蔽层(3),所述屏蔽层(3)与连接头(8)均接地;所述负载接口(2)、屏蔽层(3)、二次电源测量接口(4)、阻抗匹配调节网络(5)均集成在小型电路板(1)上。
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