[发明专利]采用高光谱CT功能成像的物质识别方法和系统有效
申请号: | 201710165177.0 | 申请日: | 2017-03-20 |
公开(公告)号: | CN106821410B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 方正;陈进;何淑婷;武晓梅;王倩 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01N23/083 |
代理公司: | 35204 厦门市首创君合专利事务所有限公司 | 代理人: | 张松亭;林燕玲 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | 采用高光谱CT功能成像的物质识别方法和系统,包括X射线管、光子计数探测器、二维平移台、旋转台、三维运动控制器和控制中心;该X射线管通与高压发生器相连以发出X射线对被测样本进行扫描;该旋转台位于X射线管发射端前方以放置被测样本;该光子计数探测器位于二维平移台上以采集高光谱数据;该三维运动控制器与旋转台相连以控制器其旋转,该三维运动器与二维平移台相连以控制其平移;该控制中心与三维运动控制器、光子计数探测器、高压发生器相连以控制三维运动控制器和高压发生器,接收光谱数据并识别被测样本。该方法和系统在疾病诊断,食品安全和非破坏性测试中的具有很好的应用前景。 | ||
搜索关键词: | 采用 光谱 ct 功能 成像 物质 识别 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.采用高光谱CT功能成像的物质识别方法,其特征在于,包括如下步骤/n1)采用X射线对被测样本进行扫描,通过光子计数探测器采集高光谱数据;/n2)检测X射线强度并结合高光谱数据作去背景处理得到输入数据;/n3)对输入数据采用CT重建算法重建被测样本的内部结构,得到全谱段断层影像;所述CT重建算法为迭代算法,/n先对未知图像向量赋初值:
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