[发明专利]采用高光谱CT功能成像的物质识别方法和系统有效
申请号: | 201710165177.0 | 申请日: | 2017-03-20 |
公开(公告)号: | CN106821410B | 公开(公告)日: | 2020-01-07 |
发明(设计)人: | 方正;陈进;何淑婷;武晓梅;王倩 | 申请(专利权)人: | 厦门大学 |
主分类号: | A61B6/03 | 分类号: | A61B6/03;G01N23/083 |
代理公司: | 35204 厦门市首创君合专利事务所有限公司 | 代理人: | 张松亭;林燕玲 |
地址: | 361000 *** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 采用 光谱 ct 功能 成像 物质 识别 方法 系统 | ||
1.采用高光谱CT功能成像的物质识别方法,其特征在于,包括如下步骤
1)采用X射线对被测样本进行扫描,通过光子计数探测器采集高光谱数据;
2)检测X射线强度并结合高光谱数据作去背景处理得到输入数据;
3)对输入数据采用CT重建算法重建被测样本的内部结构,得到全谱段断层影像;所述CT重建算法为迭代算法,
先对未知图像向量赋初值:所述迭代算法包括如下步骤:
3.1)计算第i条光线的估计投影值:Wij是投影系数;
3.2)计算误差也即校正伪影:Pi是第i条射线的投影值;
3.3)计算第j个像素点的修正值:其中Ni表示第i条光线穿过图像区域上的像素点的总个数;
3.4)计算第j个像素点的修正值:
3.5)第i条光线上的点都加Vij进行修正,重复3.2)到3.4),直至所有图像的所有光线,此为一次迭代;
3.6)将上一轮迭代结果作为初值,重复3.2)到3.4)得到第K轮结果,从而得到一序列
4)对全谱段断层影像进行图像分析和处理,圈定感兴趣区域的坐标;
5)再次利用CT重建算法重建得到感兴趣区域的坐标分谱线进行重建,得到重建光谱曲线;
6)把重建光谱曲线与数据库中的光谱数据进行相关性对比,从而判断被测样本的感兴趣区域的物质分类;使用闵式距离作为相关性对比的标准来识别不同的物质分类。
2.如权利要求1所述的采用高光谱CT功能成像的物质识别方法,其特征在于,所述的去背景处理,如下:
其中I0是X射线强度,I是所述的高光谱数据,μ是物质的衰减系数,L是X射线穿过该物质的长度。
3.一种高光谱CT功能成像系统,其特征在于,包括X射线管、光子计数探测器、二维平移台、旋转台、三维运动控制器和控制中心;该X射线管与高压发生器相连以发出X射线对被测样本进行扫描;该旋转台位于X射线管发射端前方以放置被测样本;该光子计数探测器位于二维平移台上以采集高光谱数据;该三维运动控制器与旋转台相连以控制其旋转,该三维运动控制器与二维平移台相连以控制其平移;该控制中心与三维运动控制器、光子计数探测器、高压发生器相连以控制三维运动控制器和高压发生器,接收光谱数据并采用权利要求1至2所述的任意一种采用高光谱CT功能成像的物质识别方法识别被测样本。
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