[发明专利]一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法有效

专利信息
申请号: 201710131445.7 申请日: 2017-03-07
公开(公告)号: CN106886787B 公开(公告)日: 2019-05-03
发明(设计)人: 武滢;李斌;彭芳瑜;刘红奇;罗博;毛新勇;谭波;阳雪峰 申请(专利权)人: 华中科技大学
主分类号: G06K9/46 分类号: G06K9/46;G06K9/62;G06K9/40
代理公司: 华中科技大学专利中心 42201 代理人: 曹葆青;李智
地址: 430074 湖北*** 国省代码: 湖北;42
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明属于装备加工过程信号数据提取相关技术领域,其公开了一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法,其包括以下步骤:建立多个单工序加工信号的模板图像库及需要提取数据的多工序加工信号对应的全工序图像;将所述全工序图像与模板图像进行匹配,并采用相关系数来表示二者之间的匹配程度,同时按照相关系数大小来选择最佳模板图像;采用二维卷积理论对选取得到的最佳模板图像与所述全工序图像进行图像定位以得到定位像素点;根据定位像素点、所述全工序图像的像素点与对应的信号数据采样点之间的关系提取出所求的单工序加工信号对应的信号数据,并按时间顺序进行自动存储。
搜索关键词: 一种 基于 二维 卷积 理论 工序 信号 数据 提取 存储 方法
【主权项】:
1.一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法,其包括以下步骤:(1)建立多个单工序加工信号的模板图像库及需要提取数据的多工序加工信号对应的全工序图像;(2)将所述全工序图像与模板图像进行匹配,并采用相关系数来表示二者之间的匹配程度,同时按照相关系数大小来选择最佳模板图像;(3)采用二维卷积理论对选取得到的最佳模板图像与所述全工序图像进行图像定位以得到定位像素点;(4)根据定位像素点、所述全工序图像的像素点与对应的信号数据采样点之间的关系提取出所求的单工序加工信号对应的信号数据,并按时间顺序进行自动存储。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华中科技大学,未经华中科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201710131445.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top