[发明专利]一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法有效
申请号: | 201710131445.7 | 申请日: | 2017-03-07 |
公开(公告)号: | CN106886787B | 公开(公告)日: | 2019-05-03 |
发明(设计)人: | 武滢;李斌;彭芳瑜;刘红奇;罗博;毛新勇;谭波;阳雪峰 | 申请(专利权)人: | 华中科技大学 |
主分类号: | G06K9/46 | 分类号: | G06K9/46;G06K9/62;G06K9/40 |
代理公司: | 华中科技大学专利中心 42201 | 代理人: | 曹葆青;李智 |
地址: | 430074 湖北*** | 国省代码: | 湖北;42 |
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摘要: | 本发明属于装备加工过程信号数据提取相关技术领域,其公开了一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法,其包括以下步骤:建立多个单工序加工信号的模板图像库及需要提取数据的多工序加工信号对应的全工序图像;将所述全工序图像与模板图像进行匹配,并采用相关系数来表示二者之间的匹配程度,同时按照相关系数大小来选择最佳模板图像;采用二维卷积理论对选取得到的最佳模板图像与所述全工序图像进行图像定位以得到定位像素点;根据定位像素点、所述全工序图像的像素点与对应的信号数据采样点之间的关系提取出所求的单工序加工信号对应的信号数据,并按时间顺序进行自动存储。 | ||
搜索关键词: | 一种 基于 二维 卷积 理论 工序 信号 数据 提取 存储 方法 | ||
【主权项】:
1.一种基于二维卷积理论的工序信号数据提取及存储方法,其包括以下步骤:(1)建立多个单工序加工信号的模板图像库及需要提取数据的多工序加工信号对应的全工序图像;(2)将所述全工序图像与模板图像进行匹配,并采用相关系数来表示二者之间的匹配程度,同时按照相关系数大小来选择最佳模板图像;(3)采用二维卷积理论对选取得到的最佳模板图像与所述全工序图像进行图像定位以得到定位像素点;(4)根据定位像素点、所述全工序图像的像素点与对应的信号数据采样点之间的关系提取出所求的单工序加工信号对应的信号数据,并按时间顺序进行自动存储。
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