[发明专利]一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法

摘要

本发明的一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法，中央处理器与外部的PC上位机相连，中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，机械转盘上设有测试座，测试座中设有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针；测试平台上设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯。本发明具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。

主权项

1.一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法，所述的磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与距离其最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与距离其最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡通过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器连接磁条卡槽、距离传感器连接NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，光敏传感器和距离传感器分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别与中央处理器相连，其特征在于，所述测试方法包括以下步骤：步骤1：通过第一机械臂上的两个吸嘴，同时吸取两个IC卡，并放置在与其距离最近的测试座里面，测试座装好了2个IC卡后，PC上位机通过中央处理器控制机械转盘操作，机械转盘带动其上的测试座逆时针转动120度，使安装两个IC卡的测试座，在机械转盘的带动下，转动至与机械下压块下方相对应的位置，机械下压块下压，使两个IC卡能与测试座中IC卡槽底部的探针接触良好，此时步骤2开始运行，进行刷卡测试；/n步骤2：两个磁条卡垂直固定在第三机械臂上，使其能在相对应的卡槽里来回进行刷卡操作，PC上位机启动刷磁条卡动作，通过第三机械臂，用事先设置好的速度做来往返两次刷卡测试，其中，刷卡速度通过光敏传感器进行监控，此时步骤3开始运行；/n步骤3：上位机启动刷NFC射频卡动作，两张NFC射频卡分别吸附至第四机械臂上，操作第四机械臂，使两张NFC射频卡分别在相对应的在NFC磁场线圈上方事先设置好的高度位置，左右来回的移动，测试解码能力，其中，NFC射频卡在NFC磁场线圈上的高度由距离传感器进行监控，此时步骤4开始运行；/n步骤4：刷卡测试完成后处于机械下压块下方的测试座，在PC上位机的控制下，机械转盘带动其上的测试座再次逆时针转动120度，使经机械下压块下压后的测试座，转至距离第二机械臂最近的位置，第二机械臂上的吸嘴把测试完后的IC卡吸取出来并放置分类归放区进行分类归放，重新运行步骤1。/n