[发明专利]一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法

说明书

本发明的一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法，中央处理器与外部的PC上位机相连，中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，机械转盘上设有测试座，测试座中设有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针；测试平台上设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯。本发明具有提高芯片测试过程的工作效率和可靠性的积极效果。

技术领域

本发明涉及芯片测试技术领域，特别属于一种基于磁头芯片智能测试系统的测试方法。

背景技术

随着自动控制领域发展迅速，各种控制芯片在市场中都占有着巨大的份额。在芯片导入市场之前，需要进行详细仔细的测试，以确保芯片功能的正确无误和性能的达标可靠。公司设计的磁头芯片，在出厂前要进行一次出场测试，芯片放进测试座里面，通过刷卡方式，测试芯片功能是否正常，如果采取人工方式，不仅效率低，而且成本又高，长期手工刷卡,刷卡速度不好掌控，手也受不起长时间这样反复动作，严重影响了芯片的测试效率。

发明内容

本发明的目的即在于提供一种磁头芯片智能测试系统及其测试方法，以达到提高芯片测试过程的智能化控制以及芯片测试效率的目的。

本发明所提供的一种磁头芯片智能测试系统，具有中央处理器，中央处理器与外部的PC上位机相连，其特征在于，所述的中央处理器同时连接测试平台，测试平台上包括电路机构和机械机构，电路机构包括电源模块，电源模块连接中央处理器，机械机构包括机械臂、机械转盘和机械下压块，电源模块一端连接中央处理器，另一端输出电源至机械转盘，同时，机械臂、机械转盘和机械下压块分别与中央处理器相连，所述机械臂又包括第一机械臂、第二机械臂、第三机械臂、第四机械臂，其中，机械转盘上设有三个测试座，测试座中设置有IC卡槽，IC卡槽底部设有探针，测试座之间两两分别形成120度的夹角，第一机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与未测试IC装料区相配合；机械下压块与其下方设置于机械转盘上的一个测试座相对应；第二机械臂与其距离最近的设置于机械转盘上的一个测试座相对应，且与测试过的IC分类归放区相配合；磁条卡槽过第三机械臂与磁条卡槽相配合；NFC射频卡通过第四机械臂与NFC磁场线圈相配合，此外，测试平台上还设有光敏传感器、距离传感器以及扬声器、红绿双色指示灯，其中，光敏传感器、距离传感器分别连接磁条卡槽、NFC磁场线圈，光敏传感器用于监控刷卡速度，距离传感器用于监控测试NFC射频卡刷卡时的高度，并分别连接中央处理器；扬声器、红绿双色指示灯分别与中央处理器相连，另外，PC上位机具有PC上位机软件，所述PC上位机软件上设有磁头芯片测试控制程序。

进一步的，正常工作状态下的红绿双色指示灯的绿灯处于点亮状态。

进一步的，所述测试座中分别有两个IC卡槽。

进一步的，所述磁头芯片测试控制程序又包括测试控制程序以及报警控制程序。

进一步的，所述测试控制程序为协调中央处理器与测试平台上的电路机构和机械机构之间工作的控制流程。

进一步的，所述报警控制程序为当检测到测试条件不在设定的规范范围内，暂停所有机械操作，当前测试任务被挂起，同时红绿双色指示灯的红灯被点亮，扬声器报警，排查后通过PC上位机上的继续按键，被挂起的任务继续执行，红灯熄灭，扬声器关闭警报，同时绿灯点亮。

本发明所提供的一种磁头芯片智能测试系统的测试方法，其特征在于，

包括以下步骤：