[发明专利]一种激光测量方法、装置以及系统在审
| 申请号： | 201710117779.9 | 申请日： | 2017-03-01 |
| 公开（公告）号： | CN106767463A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张超 | 申请（专利权）人： | 苏州光照精密仪器有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/06 | 分类号： | G01B11/06 |
| 代理公司： | 北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)11371 | 代理人： | 金相允 |
| 地址： | 215000 江苏省苏州*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种激光测量方法、装置以及系统，其中，该测量方法应用于包括两个线线激光位移传感器的激光测量系统中，两个所述线激光位移传感器的测头相对设置；该方法包括针对两个所述线线激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；每隔预设时间，触发两个所述线激光位移传感器，并获取两个所述线激光位移传感器的对待测量产品的测量信息；根据所述测量信息以及所述线性度补偿数据，计算所述待测量产品在不同位置的实际厚度数据。该方法能够增加测量面，提升测量准确度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 激光 测量方法 装置 以及 系统 | ||
【主权项】：
一种激光测量方法，其特征在于，该测量方法应用于包括两个线线激光位移传感器的激光测量系统中，两个所述线激光位移传感器的测头相对设置；该方法包括：针对两个所述线线激光位移传感器进行线性度补偿，获取线性度补偿数据；每隔预设时间，触发两个所述线激光位移传感器，并获取两个所述线激光位移传感器的对待测量产品的测量信息；根据所述测量信息以及所述线性度补偿数据，计算所述待测量产品在不同位置的实际厚度数据。
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