[发明专利]磁体和位移检测装置有效

专利信息
申请号: 201710114925.2 申请日: 2017-02-28
公开(公告)号: CN107179093B 公开(公告)日: 2020-03-24
发明(设计)人: 广田洋平;平林启;内田圭祐;渡部司也 申请(专利权)人: TDK株式会社
主分类号: G01D5/12 分类号: G01D5/12;G01D5/14;G01R33/09;H01F7/02
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 11322 代理人: 杨琦;沈娟
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明的位移检测装置具备:磁体,具有被磁化成S极的第一磁极区域和被磁化成N极的第二磁极区域,并且在自身的周围形成磁场;以及磁场检测单元,以可以沿着第一方向相对该磁体移动的方式设置,并且通过检测磁场的变化来检测磁体在第一方向上的位移。磁体包含迁移部分,在迁移部分,第二方向上的第二磁极区域的磁容量对第一磁极区域的磁容量的比沿着第一方向逐渐变化,第二方向与第一方向正交。
搜索关键词: 磁体 位移 检测 装置
【主权项】:
一种位移检测装置,其中,具备:磁体,具有被磁化成S极的第一磁极区域和被磁化成N极的第二磁极区域,并且在自身的周围形成磁场;以及磁场检测单元,以可以沿着第一方向相对所述磁体移动的方式设置,并且通过检测所述磁场的变化来检测所述磁体在所述第一方向上的位移,所述磁体包含迁移部分,在所述迁移部分,第二方向上的所述第二磁极区域的磁容量对所述第一磁极区域的磁容量的比沿着所述第一方向逐渐变化,所述第二方向与所述第一方向正交。
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