[发明专利]光掩模的制造方法、光掩模和显示装置的制造方法在审
申请号: | 201710112538.5 | 申请日: | 2017-02-28 |
公开(公告)号: | CN107844026A | 公开(公告)日: | 2018-03-27 |
发明(设计)人: | 金台勋;李锡薰 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/70 | 分类号: | G03F1/70;G03F1/32 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 庞东成,孟伟青 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供光掩模的制造方法、光掩模和显示装置的制造方法,一种光掩模的制造方法,其具备包含透光部、第1透过控制部和第2透过控制部的转印用图案,该方法包括下述工序准备形成有第1光学膜和第1抗蚀剂膜的光掩模坯后,对第1抗蚀剂膜进行第1绘图,形成第1抗蚀剂图案;使用第1抗蚀剂图案仅对第1光学膜蚀刻,形成第1光学膜图案;在透明基板上形成第2光学膜后,在第2光学膜上形成第2抗蚀剂膜并进行第2绘图,形成第2抗蚀剂图案;和使用第2抗蚀剂图案仅对第2光学膜蚀刻,形成第2光学膜图案;第2抗蚀剂图案具有下述尺寸在覆盖第2透过控制部的形成区域的同时,在第2透过控制部的边缘在相邻的第1透过控制部侧加上了特定宽度的裕量。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 制造 方法 显示装置 | ||
【主权项】:
一种显示装置制造用光掩模的制造方法,其特征在于,该显示装置制造用光掩模具备在透明基板上第1光学膜和第2光学膜分别被图案化而形成的转印用图案;所述转印用图案包含:所述透明基板的表面露出的透光部、具有与所述透光部相邻的部分的第1透过控制部、和具有与所述第1透过控制部相邻的部分的第2透过控制部;在所述第1透过控制部具有形成于所述透明基板上的所述第1光学膜,在所述第2透过控制部具有形成于所述透明基板上的所述第2光学膜,该制造方法包括下述工序:准备在所述透明基板上形成有所述第1光学膜和第1抗蚀剂膜的光掩模坯的工序;对所述第1抗蚀剂膜进行第1绘图而形成第1抗蚀剂图案的第1抗蚀剂图案形成工序;将所述第1抗蚀剂图案作为掩模,对所述第1光学膜进行蚀刻而形成第1光学膜图案的第1图案化工序;在包含所述第1光学膜图案的所述透明基板上形成所述第2光学膜的工序;在所述第2光学膜上形成第2抗蚀剂膜并进行第2绘图,形成第2抗蚀剂图案的第2抗蚀剂图案形成工序;和将所述第2抗蚀剂图案作为掩模,对所述第2光学膜进行蚀刻而形成第2光学膜图案的第2图案化工序,在所述第1图案化工序中,仅对所述第1光学膜进行蚀刻,在所述第2图案化工序中,仅对所述第2光学膜进行蚀刻,并且,所述第2抗蚀剂图案具有下述尺寸:覆盖所述第2透过控制部的形成区域,并且在所述第2透过控制部的边缘在相邻的所述第1透过控制部侧加上了特定宽度的裕量。
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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