[发明专利]记忆体测试方法有效

专利信息
申请号: 201710103791.4 申请日: 2017-02-24
公开(公告)号: CN108511030B 公开(公告)日: 2020-12-18
发明(设计)人: 余俊锜;张志伟;黄胜国 申请(专利权)人: 瑞昱半导体股份有限公司
主分类号: G11C29/48 分类号: G11C29/48
代理公司: 北京德恒律治知识产权代理有限公司 11409 代理人: 章社杲;李伟
地址: 中国台湾新竹*** 国省代码: 台湾;71
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摘要: 一种记忆体测试方法,包含下列步骤。使记忆体控制器对记忆体模组进行资料写入及读取。当读取的资料数目不符时,校准资料触发致能讯号。再次进行资料读取,当资料读取内容包含小于或等于一笔负缘资料读取内容时,触发取样单元。资料读取数目增加时,判断未接收到资料触发讯号。资料读取数目未增加时,检查记忆体控制器。当资料读取内容包含大于一笔负缘资料读取内容时,检查记忆体模组的突发模式设定。当资料数目相符但内容不符时,检查记忆体控制器的传送模组设定及检查取样单元。当资料数目相符且内容相符时,结束测试。
搜索关键词: 记忆体 测试 方法
【主权项】:
1.一种记忆体测试方法,应用于一记忆体装置中,其中该记忆体装置包含一记忆体控制器以及一记忆体模组,该记忆体测试方法包含:使该记忆体控制器根据一资料写入内容对该记忆体模组进行一资料写入后,再自该记忆体模组接收一资料触发讯号以及一资料讯号,以在一突发(burst)模式下使一取样单元根据该资料触发讯号的一正缘以及一负缘取样该资料讯号,俾进行一资料读取产生一资料读取内容;比较该资料写入内容以及该资料读取内容,当该资料读取内容的资料数目与该突发模式不符时,对一资料触发致能讯号进行一时序校准,俾对应于该资料触发讯号的一前置区段,其中该资料触发致能讯号用以致能该资料触发讯号的输入;再次进行该资料读取,当该资料读取内容的资料数目与该突发模式不符且该资料读取内容包含小于或等于一笔的一负缘资料读取内容时,由该记忆体控制器触发该取样单元取样该资料讯号,俾于该资料读取数目增加时,判断该记忆体控制器实际上并未接收到该资料触发讯号,且于该资料读取数目并未增加时,检查该记忆体控制器的设定;当该资料读取内容的资料数目与该突发模式不符且资料读取内容包含大于一笔的该负缘资料读取内容时,检查该记忆体模组对该突发模式的设定;当该资料读取内容的资料数目与该突发模式相符但内容不符时,检查该记忆体控制器的一传送模组的设定以及检查该取样单元的运作,且当该资料读取内容的资料数目与该突发模式相符且内容与该资料写入内容相符时,结束测试。
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