[发明专利]多晶硅检测采样设备在审
| 申请号： | 201710090785.X | 申请日： | 2017-02-20 |
| 公开（公告）号： | CN108458916A | 公开（公告）日： | 2018-08-28 |
| 发明（设计）人： | 陈湘伟;尹祚鹏;刘晓霞;王桃霞 | 申请（专利权）人： | 江苏协鑫软控设备科技发展有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/44 | 分类号： | G01N1/44 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 唐清凯 |
| 地址： | 221004 江苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种多晶硅检测采样设备，包括：支架；竖直固定于所述支架上的容纳管，用以容纳颗粒硅料，所述容纳管具有上端口；位于所述容纳管内的籽晶夹头以及一端连接于所述籽晶夹头、并由所述上端口延伸至所述容纳管外的上轴，所述籽晶夹头用以夹持单晶硅籽晶，使单晶硅籽晶位于所述颗粒硅料的上方；设置于所述容纳管的外侧壁、且对应所述单晶硅籽晶所在位置的加热机构，用于对所述单晶硅籽晶进行加热，使单晶硅籽晶的下端面熔融成液滴状，以将与单晶硅籽晶的下端面接触的颗粒硅料吸附至单晶硅籽晶的表面。上述多晶硅检测采样设备能够使对颗粒硅料进行提样，以备后续对该颗粒硅料进行纯度检测。 | ||
| 搜索关键词： | 单晶硅籽晶 颗粒硅 容纳管 采样设备 籽晶夹头 多晶硅 上端口 下端面 支架 检测 纯度检测 加热机构 竖直固定 一端连接 外侧壁 成液 滴状 夹持 熔融 上轴 吸附 加热 容纳 延伸 | ||
【主权项】：
1.一种多晶硅检测采样设备，其特征在于，包括：支架；竖直固定于所述支架上的容纳管，用以容纳颗粒硅料，所述容纳管具有上端口；位于所述容纳管内的籽晶夹头以及一端连接于所述籽晶夹头、并由所述上端口延伸至所述容纳管外的上轴，所述籽晶夹头用以夹持单晶硅籽晶，使单晶硅籽晶位于所述颗粒硅料的上方；设置于所述容纳管的外侧壁的加热机构，用于对所述单晶硅籽晶进行加热，使单晶硅籽晶的下端面熔融成液滴状，以将与单晶硅籽晶的下端面接触的颗粒硅料吸附至单晶硅籽晶的表面。
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