[发明专利]测定装置以及检测装置在审
| 申请号： | 201710075003.5 | 申请日： | 2017-02-10 |
| 公开（公告）号： | CN107149478A | 公开（公告）日： | 2017-09-12 |
| 发明（设计）人： | 桥本大毅;沢渡彩映 | 申请（专利权）人： | 精工爱普生株式会社 |
| 主分类号： | A61B5/1455 | 分类号： | A61B5/1455;A61B5/00;A61B5/026 |
| 代理公司： | 北京康信知识产权代理有限责任公司11240 | 代理人： | 田喜庆,吴孟秋 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供了测定装置以及检测装置，其降低用于获得生物体信息的激光的误射的可能性。该测定装置具备第一发光部，出射第一波长的光；第二发光部，出射第二波长的光，所述第二波长的光对测定部位的深达度大于所述第一波长的光对测定部位的深达度；受光部，生成与从所述测定部位到达的光的受光电平对应的检测信号；以及分析部，获得与所述检测信号对应的生物体信息，所述第一发光部、所述第二发光部和所述受光部设置在与所述测定部位相对的检测面，所述第一发光部与所述受光部之间的距离大于所述第二发光部与所述受光部之间的距离。 | ||
| 搜索关键词： | 测定 装置 以及 检测 | ||
【主权项】：
一种测定装置，其特征在于，具备：第一发光部，出射第一波长的光；第二发光部，出射第二波长的光，所述第二波长的光对测定部位的深达度大于所述第一波长的光对测定部位的深达度；受光部，生成与从所述测定部位到达的光的受光电平对应的检测信号；以及分析部，获得与所述检测信号对应的生物体信息，所述第一发光部、所述第二发光部和所述受光部设置在与所述测定部位相对的检测面，所述第一发光部和所述受光部之间的距离大于所述第二发光部和所述受光部之间的距离。
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