[发明专利]一种单模光纤的单模态衰减谱的测试方法有效
| 申请号： | 201710043180.5 | 申请日： | 2017-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN106556508B | 公开（公告）日： | 2020-12-01 |
| 发明（设计）人： | 孙梦珣;汪伟光;李婧;熊壮;曹蓓蓓 | 申请（专利权）人： | 长飞光纤光缆股份有限公司 |
| 主分类号： | G01M11/00 | 分类号： | G01M11/00 |
| 代理公司： | 武汉臻诚专利代理事务所(普通合伙) 42233 | 代理人： | 向彬 |
| 地址： | 430074 湖北省*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： |
本发明公开了一种单模光纤的单模态衰减谱的测试方法，包括如下步骤：提供一段长度为L |
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| 搜索关键词： | 一种 单模 光纤 衰减 测试 方法 | ||
【主权项】：
一种单模光纤的单模态衰减谱的测试方法，其特征在于，包括如下步骤：提供一段长度为L1的截止波长较小的单模光纤F1；并将光纤F1打ΦD1cm*X+ΦD2cm*Y的圈，其中D1和D2分别为打圈直径，X和Y分别为打圈个数；将待测单模光纤F3与所述单模光纤F1熔接；在单模光纤F3上截断，采用截断法测试待测单模光纤F3的衰减谱。
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