[发明专利]测量装置以及测量方法有效
| 申请号： | 201680079526.0 | 申请日： | 2016-11-16 |
| 公开（公告）号： | CN108476372B | 公开（公告）日： | 2020-10-09 |
| 发明（设计）人： | 藤井优美;村田寿子;小西正也 | 申请（专利权）人： | JVC建伍株式会社 |
| 主分类号： | H04S7/00 | 分类号： | H04S7/00;H04S1/00 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 刘军 |
| 地址： | 日本神*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 传递特性测量部(35)分别测量从左右扬声器(5L、5R)到左右麦克风(2L、2R)的第一传递特性。卷积运算部(11、12、21、22)使用第一传递特性对再现信号进行卷积运算。环境测量部(39)用左右麦克风(2L、2R)采集从左右扬声器(5L、5R)输出的环境测量用信号来设定传递特性测量用信号的振幅水平和传递特性的抽头长度，在不从左右扬声器(5L、5R)输出声音的状态下用左右麦克风(2L、2R)进行声音采集，并测量第二传递特性。校正处理部(38)基于第二传递特性来校正第一传递特性的低频范围。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 以及 测量方法 | ||
【主权项】：
1.一种声像定位处理装置，包括：左右扬声器；左右麦克风；传递特性测量部，通过用所述左右麦克风采集从所述左右扬声器输出的传递特性测量用信号，来分别测量从所述左右扬声器到所述左右麦克风的第一传递特性；卷积运算部，使用所述第一传递特性对再现信号进行卷积运算；环境测量部，进行第一环境测量和第二环境测量，并基于所述第一环境测量的结果来设定所述传递特性测量用信号的振幅水平和所述第一传递特性的抽头长度，基于所述第二环境测量的结果来测量第二传递特性，所述第一环境测量是由所述左右麦克风对从所述左右扬声器输出的环境测量用信号进行采集，所述第二环境测量是在不从所述左右扬声器输出声音的状态下由所述左右麦克风进行声音采集；以及校正处理部，基于所述第二传递特性来校正所述第一传递特性的低频范围。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于JVC建伍株式会社，未经JVC建伍株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/201680079526.0/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：声波场生成
- 下一篇：一种处理声场数据的方法和装置
