[发明专利]用于在芯片上产生多个测量区域的方法及具有多个测量区域的芯片有效

专利信息
申请号: 201680070132.9 申请日: 2016-12-02
公开(公告)号: CN108367289B 公开(公告)日: 2022-01-18
发明(设计)人: A·尼迈耶;H-U·索尔德;M·格里斯纳 申请(专利权)人: 勃林格殷格翰维特梅迪卡有限公司
主分类号: B01L3/00 分类号: B01L3/00;B81C1/00;B81B7/04
代理公司: 北京坤瑞律师事务所 11494 代理人: 封新琴
地址: 德国*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 发明涉及用于在芯片上产生多个测量区域的方法以及涉及具有通过该方法能得到的多个测量区域的芯片。
搜索关键词: 用于 芯片 产生 测量 区域 方法 具有
【主权项】:
1.用于在芯片(1)上产生多个测量区域(5)、特别是腔体形式的测量区域(5)的方法,其特征在于(a)在第一方法步骤中,将基于至少一种有机聚合物的涂料组合物(11)施涂到所述芯片(1)的芯片表面(2)上,(b)在随后的方法步骤中,将所述涂料组合物(11)至少部分地和/或至少在一些区域中固化,和(c)在另一个随后的方法步骤中,至少在一些区域中除去所述涂料组合物(11),使得限定各个测量区域(5),并且在所述芯片表面(2)上形成至少一个三维疏水结构、特别是疏水层(4)。
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