[发明专利]具有对介入设备的三维定位的对象的X射线成像

摘要

本发明涉及导管(12)在被布置在X射线成像装置的对象接收空间(14)处的感兴趣对象(22)内的深度定位的X射线装置(10)和方法(64)。所述X射线成像装置包括X射线源(16)和X射线探测器(20)。由相位光栅形成的至少一个干涉仪(24)被布置在X射线源与X射线探测器之间。X射线探测器被配置为探测X射线辐射，所述X射线辐射已经受相位光栅和感兴趣对象以及导管影响，所述导管也可以被布置在对象接收空间和/或感兴趣对象处。X射线探测器被配置为提供探测器信号s。探测器信号的信号分量涉及相衬探测器信号分量，所述相衬探测器信号分量可以基于探测器信号来计算并且可以表示可见性损失。已经发现，探测器信号的相应可见性损失信号分量取决于导管与相位光栅之间的距离。因此，针对导管的深度信息可以基于探测器信号的可见性损失信号分量来计算。相应地，导管在对象接收空间处的三维位置可以被计算。应注意，导管可以仅仅是可以被布置在对象接收空间处的介入设备的一个范例。效果是，介入设备(特别是导管)的三维跟踪可以根据X射线探测器信号来实现。

主权项

1.一种用于确定介入设备(12)在对象接收空间(14)内的位置p的X射线成像装置(10)，包括：‑X射线源(16)，其用于生成X射线辐射(18)；‑X射线探测器(20)；‑所述对象接收空间，其用于布置感兴趣对象(22)以用于进行X射线成像，其中，所述对象接收空间被布置在所述X射线源与所述X射线探测器之间；以及‑干涉仪(24)，其用于创建干涉图样，其中，所述干涉仪被布置在所述对象接收空间和/或所述X射线源之间或者所述对象接收空间与所述X射线探测器之间；其中，所述X射线探测器被配置为探测受所述干涉仪影响的X射线辐射(26)，并且响应于其而提供探测器信号s；并且其中，所述成像装置还包括：‑处理单元(28)，其被配置为：(i)基于所述探测器信号来识别所述对象接收空间内的所述介入设备；(ii)基于所述探测器信号来计算针对所识别的介入设备的可见性损失信号；并且(iii)基于所述可见性损失信号来计算表示所述介入设备在所述对象接收空间内的所述位置的位置信号。