[发明专利]具有对介入设备的三维定位的对象的X射线成像有效
申请号: | 201680066911.1 | 申请日: | 2016-09-29 |
公开(公告)号: | CN108348213B | 公开(公告)日: | 2022-04-26 |
发明(设计)人: | D·谢弗;M·格拉斯;T·克勒 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦有限公司 |
主分类号: | A61B6/12 | 分类号: | A61B6/12;A61B6/00 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 王英;刘炳胜 |
地址: | 荷兰艾*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 具有 介入 设备 三维 定位 对象 射线 成像 | ||
1.一种用于确定介入设备(12)在对象接收空间(14)内的位置(p)的X射线成像装置(10),包括:
X射线源(16),其用于生成X射线辐射(18);
X射线探测器(20);
所述对象接收空间,其用于布置感兴趣对象(22)以用于进行X射线成像,其中,所述对象接收空间被布置在所述X射线源与所述X射线探测器之间;以及
干涉仪(24),其用于创建干涉图样,其中,所述干涉仪被布置在所述对象接收空间与所述X射线源之间或者所述对象接收空间与所述X射线探测器之间;
其中,所述X射线探测器被配置为探测受所述干涉仪影响的X射线辐射(26),并且响应于其而提供探测器信号(s);并且
其中,所述成像装置还包括:
处理单元(28),其被配置为:
(i)基于所述探测器信号来识别所述对象接收空间内的所述介入设备;
(ii)基于所述探测器信号来计算针对所识别的介入设备的可见性损失信号,作为暗场信号;并且
(iii)基于所述可见性损失信号来计算表示所述介入设备在所述对象接收空间内的所述位置的位置信号。
2.根据权利要求1所述的装置,还包括显示单元(36),其中,所述处理单元被配置为基于所述探测器信号来计算表示所述感兴趣对象的至少一个部分的图像信号,并且被配置为基于所述图像信号和所述位置信号来计算表示所述感兴趣对象的所述图像和所述介入设备的所述位置的注释的显示信号(m);并且其中,所述显示单元被配置为基于所述显示信号来对显示图像进行显示。
3.根据权利要求1或2所述的装置,其中,所述处理单元被配置为基于所述可见性损失信号来计算表示所述介入设备的节段(40)与所述干涉仪或被固定到所述干涉仪的元件之间的距离(d)的距离信号,并且被配置为基于所述距离信号来计算表示所述介入设备在所述对象接收空间内的所述位置的所述位置信号。
4.根据权利要求2所述的装置,其中,所述位置的所述注释包括突出显示注释(42);其中,所述处理单元被配置为基于所述位置信号来确定所述突出显示注释的颜色;并且其中,所述处理单元被配置为计算所述显示信号,使得所述突出显示注释在所述显示图像处利用针对所述突出显示注释确定的所述颜色来突出显示被成像的介入设备的至少部分。
5.根据权利要求2所述的装置,其中,所述位置的所述注释包括表示所述介入设备的所述位置的值的数值注释(44);并且其中,所述处理单元被配置为计算所述显示信号,使得所述显示图像包括所述数值注释。
6.根据权利要求2所述的装置,其中,所述位置的所述注释包括滑块(48)和滑动条(50);其中,所述滑动条表示所述位置信号的预定义的最小值与所述位置信号的预定义的最大值之间的标度;其中,所述处理单元被配置为基于所述位置信号来确定所述滑块在所述滑动条处的滑块位置;并且其中,所述处理单元被配置为计算所述显示信号,使得所述显示图像还示出所述滑动条和在所述滑块位置处的所述滑块。
7.根据权利要求4所述的装置,其中,所述处理单元被配置为接收位点信号;其中,所述处理单元被配置为在每次接收到所述位点信号时保存所述介入设备的节段的位置和针对所述节段的所述突出显示注释的所述颜色作为介入设备位点;并且其中,所述处理单元被配置为计算所述显示图像,使得所述显示图像包括每个介入设备位点。
8.一种用于确定介入设备在对象接收空间内的位置的X射线系统(56),包括:根据权利要求1至7中的任一项所述的装置;以及所述介入设备;其中,所述介入设备包括这样的结构:所述结构包括小于所述干涉仪的光栅的光栅节距的两倍的结构尺寸(z)。
9.根据权利要求8所述的X射线系统,其中,所述介入设备包括在所述介入设备的节段处的具有所述结构尺寸的所述结构。
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