[发明专利]确定输入装置内的介电层的厚度分布的装置、方法和系统有效
| 申请号： | 201680064601.6 | 申请日： | 2016-11-10 |
| 公开（公告）号： | CN108351725B | 公开（公告）日： | 2021-04-02 |
| 发明（设计）人： | P.谢佩列夫 | 申请（专利权）人： | 辛纳普蒂克斯公司 |
| 主分类号： | G06F3/041 | 分类号： | G06F3/041;G06F3/044 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 俞华梁;郑冀之 |
| 地址： | 美国加利*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 公开了一种输入装置以及相关的方法和处理系统。输入装置包括与导电参考元件附连的感测组件，所述感测组件包括与导电参考元件电容性耦合的多个传感器电极并限定表面。输入装置还包括切换元件，所述切换元件配置成将导电参考元件与多个参考电压中所选的一个参考电压耦合。在导电参考元件与第一参考电压耦合时获取第一电容性测量结果，以及在导电参考元件与第二参考电压耦合时获取第二电容性测量结果。 | ||
| 搜索关键词： | 确定 输入 装置 介电层 厚度 分布 方法 系统 | ||
【主权项】：
1.一种输入装置，包括：与导电参考元件附连的感测组件，所述感测组件包括与所述导电参考元件电容性耦合的多个传感器电极并限定表面；切换元件，配置成将所述导电参考元件与多个参考电压中所选的一个参考电压耦合；以及处理系统，配置成：在所述切换元件将所述导电参考元件与所述多个参考电压中的第一参考电压耦合时，使用所述多个传感器电极获取基线电容性测量结果，以及在所述切换元件将所述导电参考元件与所述多个参考电压中的第二参考电压耦合时，以及基于所述基线电容性测量结果，使用所述多个传感器电极执行电容性感测，以由此确定响应于施加到所述表面的力的所述感测组件的偏移。
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