[发明专利]用于减少在直接射线照相术中由重建的缺陷像素引起的图像干扰的方法在审

专利信息
申请号: 201680054892.0 申请日: 2016-09-20
公开(公告)号: CN108027965A 公开(公告)日: 2018-05-11
发明(设计)人: M.克雷森斯;H.范高伯根 申请(专利权)人: 爱克发医疗保健公司
主分类号: G06T5/00 分类号: G06T5/00
代理公司: 中国专利代理(香港)有限公司 72001 代理人: 张凌苗;郑冀之
地址: 比利时*** 国省代码: 暂无信息
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 针对每个缺陷图像像素来构成将高达四个主和对角线无缺陷的子核心方向纳入考虑的自适应重建核心。通过统计滤波或通过与核心相关联的替换值的加权定向卷积来实时修正缺陷像素影响的图像,所述替换值是基于经由预定AMP核心图像‑偏移结构容易可访问的5 x 5像素邻近图像数据针对每个贡献子核心方向借助于先进的多抛物线重建算法来计算的。
搜索关键词: 用于 减少 直接 射线 照相术 重建 缺陷 像素 引起 图像 干扰 方法
【主权项】:
1.用于通过针对缺陷像素执行以下步骤来修正在直接射线照相术图像中的缺陷像素赝像的方法:-收集关于围绕所述缺陷像素的图像像素的缺陷状态的信息,-基于所述信息,组成具有核心元素的自适应的主或对角线方向5 x 1重建核心,所述核心元素指代直接位于所述缺陷像素之前的第一非缺陷图像像素对以及指代直接位于所述缺陷像素之后的第二非缺陷图像像素对,-获得与所述自适应重建核心中的所述第一和第二图像像素对的位置相关联的图像数据,-定义前抛物线并且使用来自所述第一像素对的图像数据和来自直接位于所述缺陷像素之后的像素的图像数据两者来计算缺陷像素核心位置处的前抛物线插值值,-定义后抛物线并且使用来自所述第二像素对的图像数据元素和来自直接位于所述缺陷像素之前的像素的图像数据两者来计算缺陷像素位置处的后抛物线插值值,-处理所述前抛物线和所述后抛物线插值值以计算用于所述缺陷像素的图像数据的替换值,-由所述替换值来替换所述缺陷像素的图像数据。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于爱克发医疗保健公司,未经爱克发医疗保健公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/201680054892.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top