[发明专利]模式相关损耗测量方法和测量装置

摘要

当前实施例涉及一种包括实现MDL测量而不增大处理负载的结构的MDL测量方法等。当前实施例针对N(≥2)个空间模式按次序执行将预定强度的光输入至任意空间模式的光输入操作和测量包括所述任意空间模式的N个空间模式中的每一个的输出光强的强度测量操作，以产生涉及作为测量目标的光纤中的传输损耗的传输矩阵，并且通过利用产生的传输矩阵的各个组分值至少确定每单位光纤长度的MDL的线性值。

主权项

一种用于测量光纤的模式相关损耗的模式相关损耗测量方法，所述光纤具有第一端和与第一端相对的第二端并且实现在其间发生互相串扰的N(N≥2)个空间模式中的光学传输，模式相关损耗测量方法包括以下步骤：在改变目标空间模式的同时针对所述N个空间模式中的每一个重复进行光输入操作和强度测量操作，以产生关于从第一端至第二端的光纤中的传输损耗的传输矩阵，所述光输入操作将预定强度的光从光纤的第一端输入至任意目标空间模式，所述强度测量操作包括目标空间模式在内的所述N个空间模式中的每一个中的光的强度，所述光响应于针对目标空间模式的光输入而从光纤的第二端被输出；以及将通过将构成所述传输矩阵的矩阵元素中的最大值除以所述矩阵元素中的最小值而获得的比率、或者通过将所述传输矩阵的特征值或奇异值中的最大值除以所述特征值或所述奇异值中的最小值而获得的比率确定为每单位光纤长度的模式相关损耗的线性值。