[发明专利]模式相关损耗测量方法和测量装置有效

专利信息
申请号: 201680050174.6 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN107923816B 公开(公告)日: 2021-07-06
发明(设计)人: 林哲也 申请(专利权)人: 住友电气工业株式会社
主分类号: G01M11/02 分类号: G01M11/02;G02B6/02
代理公司: 北京天昊联合知识产权代理有限公司 11112 代理人: 李铭;崔利梅
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 模式 相关 损耗 测量方法 测量 装置
【说明书】:

当前实施例涉及一种包括实现MDL测量而不增大处理负载的结构的MDL测量方法等。当前实施例针对N(≥2)个空间模式按次序执行将预定强度的光输入至任意空间模式的光输入操作和测量包括所述任意空间模式的N个空间模式中的每一个的输出光强的强度测量操作,以产生涉及作为测量目标的光纤中的传输损耗的传输矩阵,并且通过利用产生的传输矩阵的各个组分值至少确定每单位光纤长度的MDL的线性值。

技术领域

本发明涉及一种模式相关损耗(下文中称作“MDL”)测量方法和一种用于测量应用于模分复用传输系统的传输介质中的MDL的MDL测量装置,并且涉及一种可应用于用于模分复用的传输介质的光纤。

背景技术

专利文献1公开了当在模分复用传输系统中执行多输入/多输出(下文中称作“MIMO”)处理时,在通过MIMO构造的模分复用传输期间的传输容量由于传输介质的MDL而减小,并且公开了用于从传输矩阵计算MDL的表达式。

非专利文献2公开了通过MIMO处理通过利用在以上非专利文献1中公开的表达式对其中将耦合多芯光纤(下文中称作“MCF”)作为传输介质应用的模分复用传输系统的MDL进行分析的结果。耦合MCF的所分析的MDL针对各个曲线图变化,但是MDL为大约0.06dB/km1/2至0.14dB/km1/2

引文列表

非专利文献

非专利文献1:P.J.Winzer and G.J.Foschini,“MIMO capacities and outageprobabilities in spatially multiplexed optical transport systems,”Opt.Express,vol.19,no.17,pp.16680-16696,Aug.2011。

非专利文献2:S.Randel,C.Schmidt,R.Ryf,R.J.Essiambre,and P.J.Winzer,“MIMO-based signal processing for mode-multiplexed transmission,”in IEEEPhotonics Society Summer Topical Meeting Series,2012,pp.181-182,paper MC 4.1。

发明内容

技术问题

发明人通过检查常规技术发现以下问题。也就是说,根据上述常规技术,通过MIMO处理的分析对于测量MDL是必须的,从而必须执行多个((空间模式的数量)×(偏振模式的数量))信号的相干检测,以预测包括时间延迟和波长相关性的传输线的传输矩阵,并且执行传输矩阵的奇异值分解。因此,在针对用于模分复用的光纤的MDL评估期间必须执行复杂的测量和计算。

图1A是示出在应用于用于模分复用传输的传输介质的光纤中的通常的MDL测量装置的示例性构造的示图,并且图1A所示的MDL测量装置100包括:发送系统20,其布置在作为测量目标的光纤10的输入端10a(第一端)那侧上,;接收系统30,其布置在光纤10的输出端10b(第二端)那侧上;以及控制装置40,其被构造为经发送系统控制线(包括数据线)25控制发送系统20和经接收系统控制线(包括数据线)35控制接收系统30。控制装置40包括用于利用从接收系统30获得的观察数据计算光纤10的MDL的计算装置50。

如图2A所示,作为示例,与图1A中的发送系统20对应的常规MDL测量装置中的发送系统20A包括空分复用(下文中称作“SDM”)复用器21以及N(≥2)个同相/正交(IQ)调制器22。分别将N个IQ调制器22提供至光纤10中的N(≥2)个空间通道#1至#N,并且它们由控制装置40经控制线(#1至#N)25控制。SDM复用器21将来自N个IQ调制器22的调制光的复用光从光纤10的输入端10a输入至光纤10。

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