[发明专利]具有多个内核的集成电路芯片有效
申请号: | 201680045472.6 | 申请日: | 2016-09-15 |
公开(公告)号: | CN107851054B | 公开(公告)日: | 2022-02-08 |
发明(设计)人: | J·S·纳亚尔;S·S·奴萨卡;R·古拉蒂;A·史睿玛里 | 申请(专利权)人: | 德克萨斯仪器股份有限公司 |
主分类号: | G06F11/16 | 分类号: | G06F11/16;G06F15/16;H01L21/70 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵志刚;赵蓉民 |
地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 在所描述的示例中,集成电路(IC)芯片(50)包括在IC芯片(50)中的定义给定方位的位置处的给定内核(52)。给定内核(52)被设计为执行特定功能。IC芯片(50)可以包括被设计为执行特定功能的另一个内核(54)。另一个内核(54)可以相对于给定内核(52)被翻转并以180度被旋转,使得另一个内核(54)相对于给定内核(52)被不对称地定向。IC芯片(50)也可以包括被配置为比较给定内核(52)的输出和另一个内核(54)的输出以检测IC芯片(50)中的故障的比较单元(58)。 | ||
搜索关键词: | 具有 内核 集成电路 芯片 | ||
【主权项】:
一种集成电路芯片即IC芯片,其包含:在所述IC芯片中的定义给定方位的位置处的给定内核,其中,所述给定内核被设计为执行特定功能;被设计为执行所述特定功能的另一个内核,所述另一个内核相对于所述给定内核被翻转并以180度被旋转,使得所述另一个内核相对于所述给定内核被不对称地定向;以及比较单元,所述比较单元被配置为比较所述给定内核的输出和所述另一个内核的输出以检测所述IC芯片中的故障。
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