[发明专利]用于认证标记了XRF标记的对象的XRF装置和方法

摘要

公开了用于认证标记了XRF标记的对象的XRF装置和方法。方法包括以下步骤：提供响应于X射线或伽马射线辐射被应用于对象而从对象到达的X射线信号的所检测部分的波长光谱轮廓；以及对X射线信号的所检测部分的波长光谱轮廓进行滤波，以抑制来自波长光谱轮廓的趋势分量和周期分量，这些趋势分量和周期分量与X射线信号部分中的噪声和杂波中的至少一个关联，从而获得具有改善的信噪比和/或信杂比的经滤波轮廓，从该经滤波轮廓，可以以提高的准确性和可靠性识别与所述对象中包括的材料的特征关联的光谱峰。通过处理经滤波轮廓以识别其中的满足预定条件的一个或更多个峰，从而所识别峰的波长指示对象中包括的材料的特征，来认证对象。

主权项

一种X射线荧光XRF装置，该XRF装置包括：辐射检测器，该辐射检测器用于检测响应于由X射线或伽马射线辐射照射对象而从所述对象到达的X射线信号，并且提供指示所检测的X射线信号的数据；和信号读取处理器，该信号读取处理器与所述检测器通信，所述处理器适于接收并处理所检测的X射线信号，以识别所述对象中包括的材料的特征；其中，所述处理器包括：光谱数据提供器，该光谱数据提供器被配置为确定指示所检测的X射线信号的至少一部分的波长光谱轮廓的数据；和滤波模块，该滤波模块适于对指示所述波长光谱轮廓的所述数据进行滤波并获得经滤波轮廓，所述滤波被配置为抑制来自所述波长光谱轮廓的趋势分量和周期分量，其中，所述趋势分量和周期分量与由所述辐射检测器检测的X射线信号部分中的噪声和杂波中的至少一个关联；从而，所述经滤波轮廓具有改善的信噪比和/或信杂比，从所述经滤波轮廓，能够以提高的准确性和可靠性识别与所述对象中包括的材料的特征关联的光谱峰。