[发明专利]与成像装置中失真校正相关的方法、系统和装置有效
申请号: | 201680023239.8 | 申请日: | 2016-03-22 |
公开(公告)号: | CN107533017B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 克里斯多夫·帕夫洛维奇;亚历山大·索金;弗拉迪米尔·马丁塞维奇 | 申请(专利权)人: | 泰科英赛科技有限公司 |
主分类号: | G01N23/00 | 分类号: | G01N23/00;G01N21/84;G01R33/565 |
代理公司: | 上海申新律师事务所 31272 | 代理人: | 董科 |
地址: | 加拿大*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本文公开了与失真校正成像相关的装置、系统和方法,该失真校正成像旨在采集衬底的图像相关数据,所述装置、系统和方法包括:一光束发射器,用于将发射指向衬底上预期位置处,以及一信号检测器,用来确定与所述发射相关联的信号强度值;其中所述信号强度值与校正后的衬底位置相关联,所述校正后的衬底位置是从所述预期衬底位置和校正因子中确定的,所述校正因子是所述预期衬底位置的一个函数。 | ||
搜索关键词: | 成像 装置 失真 校正 相关 方法 系统 | ||
【主权项】:
一种用于对衬底进行成像的成像装置,其特征在于,所述装置包含:一光束发射器,用于将发射导向引导衬底,以便在衬底预期位置处产生代表衬底的可检测信号;和一信号检测器,用于检测所述可检测信号的成像特征;其中所述成像装置自动地将所述成像特征与校正的衬底位置相关联,以用于生成失真校正图像,其中所述校正的衬底位置是从所述预期位置和校正因子确定的,其中所述校正因子是所述预期位置的一个函数。
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