[发明专利]光量检测装置、利用其的免疫分析装置及电荷粒子束装置有效

专利信息
申请号: 201680018266.6 申请日: 2016-03-16
公开(公告)号: CN107407595B 公开(公告)日: 2018-09-07
发明(设计)人: 笠井优;大西富士夫;田崎修;田上英嗣;田中一启 申请(专利权)人: 株式会社日立高新技术
主分类号: G01J1/42 分类号: G01J1/42;G01N23/2251;G01N33/53
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 曾贤伟;范胜杰
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种光量检测装置,对由光电倍增管(2)检测、由前置放大器(5)放大、且转换成数字信号的检测信号进行基准补偿处理即将低于预定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压,并补偿检测信号以使基准电压成为0,对已进行基准补偿处理的信号进行阈值处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分、和光未入射至光电倍增管(2)的状态下的基准补偿处理,对其输出信号进行暗电流计算处理即计算高于预定的信号检测阈值的信号成分,并使由阈值处理得到的检测光的信号成分减去由暗电流计算处理得到的暗电流的信号成分的时间平均值来计算发光信号量。由此,通过辨别暗电流脉冲和本底噪声,可以提高基准电压的精度,可以提高光的检测精度。
搜索关键词: 检测 装置 利用 免疫 分析 电荷 粒子束
【主权项】:
1.一种光量检测装置,其特征在于,具备:放大部,其进行放大来自对光检测的光检测部的检测信号的放大处理;A/D转换部,其进行A/D转换处理,所述A/D转换处理是将由所述放大部放大的检测信号转换成数字信号并进行输出;基准电压计算部,其对来自所述A/D转换部的输出信号进行基准电压计算处理,所述基准电压计算处理是将低于预先确定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压;基准补偿处理部,其对来自A/D转换部的输出信号进行基准补偿处理,所述基准补偿处理是以使由基准电压计算部计算出的基准电压成为0的方式来进行补偿;暗电流计算部,其对光未输入至所述光检测部的状态下的来自基准电压计算部的输出信号进行暗电流计算处理,所述暗电流计算处理是将高于预先确定的信号检测阈值的信号成分计算为暗电流脉冲;阈值处理部:其对来自所述基准电压计算部的输出信号进行阈值处理,所述阈值处理是将高于预先确定的信号检测阈值的信号成分计算为检测光脉冲;以及发光信号量计算部,其进行发光信号量计算处理,所述发光信号量计算处理是从在所述阈值处理中获得的检测光的信号成分中减去在所述暗电流计算处理中获得的暗电流的信号成分的时间平均值,来计算发光信号量。
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