[发明专利]光量检测装置、利用其的免疫分析装置及电荷粒子束装置有效
申请号: | 201680018266.6 | 申请日: | 2016-03-16 |
公开(公告)号: | CN107407595B | 公开(公告)日: | 2018-09-07 |
发明(设计)人: | 笠井优;大西富士夫;田崎修;田上英嗣;田中一启 | 申请(专利权)人: | 株式会社日立高新技术 |
主分类号: | G01J1/42 | 分类号: | G01J1/42;G01N23/2251;G01N33/53 |
代理公司: | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人: | 曾贤伟;范胜杰 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 装置 利用 免疫 分析 电荷 粒子束 | ||
1.一种光量检测装置,其特征在于,具备:
放大部,其进行放大来自对光检测的光检测部的检测信号的放大处理;
A/D转换部,其进行A/D转换处理,所述A/D转换处理是将由所述放大部放大的检测信号转换成数字信号并进行输出;
基准电压计算部,其对来自所述A/D转换部的输出信号进行基准电压计算处理,所述基准电压计算处理是将低于预先确定的基准阈值的信号成分的时间平均值计算为基准电压;
基准补偿处理部,其对来自A/D转换部的输出信号进行基准补偿处理,所述基准补偿处理是以使由基准电压计算部计算出的基准电压成为0的方式来进行补偿;
暗电流计算部,其对光未输入至所述光检测部的状态下的来自基准电压计算部的输出信号进行暗电流计算处理,所述暗电流计算处理是将高于预先确定的信号检测阈值的信号成分计算为暗电流脉冲;
阈值处理部:其对来自所述基准电压计算部的输出信号进行阈值处理,所述阈值处理是将高于预先确定的信号检测阈值的信号成分计算为检测光脉冲;以及
发光信号量计算部,其进行发光信号量计算处理,所述发光信号量计算处理是从在所述阈值处理中获得的检测光的信号成分中减去在所述暗电流计算处理中获得的暗电流的信号成分的时间平均值,来计算发光信号量。
2.根据权利要求1所述的光量检测装置,其特征在于,
并行执行所述基准电压计算处理和所述暗电流计算处理。
3.根据权利要求1所述的光量检测装置,其特征在于,
所述光量检测装置还具备:输出信号存储部,其存储来自所述A/D转换部的输出信号并根据需要进行输出,
所述暗电流计算处理、所述阈值处理、所述发光信号量计算处理是基于来自前期输出信号存储部的输出信号进行的。
4.根据权利要求1或3所述的光量检测装置,其特征在于,
该光量检测装置还具备:检测信号切换部,其对有无输出来自所述光检测部的检测信号进行切换。
5.根据权利要求1所述的光量检测装置,
在光未输入至所述光检测部的状态下、或者没有来自所述光检测部的检测信号的状态下进行所述基准电压计算处理。
6.一种免疫分析装置,其特征在于,具备:
流动池,其被导入测量对象的试样与试剂的混合液,所述试剂包含与所述试剂中的特定成分结合并形成复合体的发光体和磁性粒子;
磁场产生装置,其产生用于将被导入至所述流动池的混合液中的所述复合体捕捉到所述流动池内的预先确定的测量区域中的磁场;以及
所述权利要求1所记载的光量检测装置,其检测由捕捉到所述测量区域的复合体产生的光。
7.一种电荷粒子束装置,其特征在于,具备:
试样台,其配置测量对象的试样;
电荷粒子束照射装置,其对所述试样台上的试样照射电荷粒子束;以及
所述权利要求1所记载的光量检测装置,其检测通过由所述电荷粒子束的照射而从所述试样中生成的二次电子在闪烁器中生成的光。
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