[发明专利]氧化物烧结体、氧化物溅射靶和氧化物薄膜有效

专利信息
申请号: 201680006701.3 申请日: 2016-02-25
公开(公告)号: CN107207356B 公开(公告)日: 2020-12-08
发明(设计)人: 奈良淳史;关秀人 申请(专利权)人: 捷客斯金属株式会社
主分类号: C04B35/453 分类号: C04B35/453;C04B35/00;C23C14/08;C23C14/34;H01B5/14
代理公司: 中原信达知识产权代理有限责任公司 11219 代理人: 胡嵩麟;王海川
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 一种烧结体,其特征在于,包含锌(Zn)、镓(Ga)、硅(Si)和氧(O),Zn含量按ZnO换算为5~60摩尔%,Ga含量按Ga2O3换算为8.5~90摩尔%,Si含量按SiO2换算为0~45摩尔%,在将按ZnO换算的Zn含量设为A(摩尔%)、将按Ga2O3换算的Ga含量设为B(摩尔%)、将按SiO2换算的Si含量设为C(摩尔%)时,满足A≤(B+2C)的条件,且相对密度为90%以上。本发明的课题在于即使在通过DC溅射进行成膜时不向气氛中引入氧气,也有效地得到高透射率且低折射率的非晶膜。
搜索关键词: 氧化物 烧结 溅射 薄膜
【主权项】:
一种烧结体,其特征在于,包含锌(Zn)、镓(Ga)、硅(Si)和氧(O),Zn含量按ZnO换算为5~60摩尔%,Ga含量按Ga2O3换算为8.5~90摩尔%,Si含量按SiO2换算为0~45摩尔%,在将按ZnO换算的Zn含量设为A(摩尔%)、将按Ga2O3换算的Ga含量设为B(摩尔%)、将按SiO2换算的Si含量设为C(摩尔%)时,满足A≤(B+2C)的条件,且相对密度为90%以上。
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