[实用新型]显微三维测量装置及系统有效

专利信息
申请号: 201621310833.9 申请日: 2016-11-29
公开(公告)号: CN206546159U 公开(公告)日: 2017-10-10
发明(设计)人: 吴庆阳;曾增;李玲;张佰春;李景镇 申请(专利权)人: 深圳大学
主分类号: G01B11/25 分类号: G01B11/25
代理公司: 深圳市恒申知识产权事务所(普通合伙)44312 代理人: 王利彬
地址: 518000 广东*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 实用新型适用于三维测量技术领域,提供了一种显微三维测量装置及系统,所述装置包括结构光生成装置、光路转向组件、成像透镜组和CCD;所述结构光生成装置用于产生结构光;所述光路转向组件用于将结构光引导至待测量物上,并在经过待测量物后,将携带有物体图像信息的光线引导至所述成像透镜组;所述成像透镜组包括主透镜、微透镜阵列即光场相机,用于透射所述光线;所述CCD用于记录从微透镜阵列中相邻的微透镜透射的光线,得到记录的图像。本实用新型提供的显微三维测量装置及系统解决了结构光三维测量中存在的阴影遮挡的问题;同时,将光场相机和结构光三维测量相结合,极大的提高了光场相机的像素利用率,具有更高的精确度。
搜索关键词: 显微 三维 测量 装置 系统
【主权项】:
一种显微三维测量装置,其特征在于,包括:结构光生成装置、光路转向组件、成像透镜组和CCD;所述结构光生成装置用于产生结构光;所述光路转向组件用于将所述结构光引导至待测量物上,并在经过所述待测量物后,将携带有物体图像信息的光线引导至所述成像透镜组;所述成像透镜组包括主透镜、微透镜阵列即光场相机,用于透射所述光线;所述CCD用于记录从所述微透镜阵列中相邻的微透镜透射的光线,得到记录的图像。
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