[实用新型]一种交流发光芯片的老化测试装置有效
| 申请号： | 201621017843.3 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN206096187U | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 桑钧晟;李克坚;陈新苗 | 申请（专利权）人： | 中山昂欣科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人： | 肖军 |
| 地址： | 528400 广东省中山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本实用新型公开了一种交流发光芯片的老化测试装置，其包括框架；散热器，该散热器安装在框架内，散热器上表面设有若干可放置被测发光芯片的测试平台；固定架，该固定架可扣合在框架上，且固定架与测试平台相对的表面设有若干顶针；以及设于散热器底部的散热风扇，通过该散热风扇可对散热器强制散热；采用本实用新型公开的测试装置测试发光芯片具有安全、方便、效率高的特点。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 交流 发光 芯片 老化 测试 装置 | ||
【主权项】：
一种交流发光芯片的老化测试装置，其特征在于：其包括：框架；散热器，该散热器安装在框架内，散热器上表面设有若干可放置被测发光芯片的测试平台；固定架，该固定架可扣合在框架上，且固定架与测试平台相对的表面设有若干顶针；以及设于散热器底部的散热风扇，通过该散热风扇可对散热器强制散热。
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