[实用新型]一种交流发光芯片的老化测试装置有效
| 申请号： | 201621017843.3 | 申请日： | 2016-08-31 |
| 公开（公告）号： | CN206096187U | 公开（公告）日： | 2017-04-12 |
| 发明（设计）人： | 桑钧晟;李克坚;陈新苗 | 申请（专利权）人： | 中山昂欣科技有限责任公司 |
| 主分类号： | G01R1/04 | 分类号： | G01R1/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 广州嘉权专利商标事务所有限公司44205 | 代理人： | 肖军 |
| 地址： | 528400 广东省中山*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 交流 发光 芯片 老化 测试 装置 | ||
【说明书】：
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