[实用新型]一种米级尺度多光轴平行检测装置有效
申请号: | 201620759146.9 | 申请日: | 2016-07-19 |
公开(公告)号: | CN205808675U | 公开(公告)日: | 2016-12-14 |
发明(设计)人: | 曹庭分;陈海平;熊召;袁晓东;刘长春;叶海仙;易聪之;罗欢;全旭松;魏春蓉;周海;王晓红;郑万国 | 申请(专利权)人: | 中国工程物理研究院激光聚变研究中心 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02;G01B11/26 |
代理公司: | 北京同辉知识产权代理事务所(普通合伙)11357 | 代理人: | 刘洪勋 |
地址: | 621900*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本实用新型公开了一种米级尺度多光轴平行检测装置,其包括第一校准部、第二校准部、第三校准部、第一平移机构和控制系统,所述第一校准部包括自准直仪一、固定基准和第一支撑平台,所述自准直仪一和固定基准依次安装在所述第一支撑平台上,所述第二校准部和第三校准部安装在所述第一平移机构上,所述第二校准部和第三校准部与控制系统连接。本实用新型装置满足多光轴平行性检测需求,采用该检测装置进行多光轴平行性检测,检测区域可达数米见方,检测过程实现自动化。 | ||
搜索关键词: | 一种 尺度 光轴 平行 检测 装置 | ||
【主权项】:
一种米级尺度多光轴平行检测装置,其特征在于:其包括第一校准部、第二校准部、第三校准部、第一平移机构和控制系统,所述第二校准部和第三校准部安装在所述第一平移机构上,所述第二校准部和第三校准部与控制系统连接;第一校准部发出的光轴一垂直于第二校准部发出的光轴二,第二校准部发出的光轴二垂直于第三校准部发出的光轴三。
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